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「芯」品上市 | 全新蔡司雙束電鏡Crossbeam 550 Samplefab,為半導(dǎo)體而生

來源:卡爾蔡司(上海)管理有限公司 2024年12月13日 09:21

「芯」品上市 | 全新蔡司雙束電鏡Crossbeam 550 Samplefab,為半導(dǎo)體而生

「芯」品上市 | 全新蔡司雙束電鏡Crossbeam 550 Samplefab,為半導(dǎo)體而生

新品上市

蔡司雙束電鏡

Crossbeam 550 Samplefab

蔡司推出全新雙束電鏡 Crossbeam 550 Samplefab

作為一款專為半導(dǎo)體行業(yè) TEM 樣品制備開發(fā)的

聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)

Crossbeam 550 Samplefab 提供優(yōu)異的靈活性

自動化功能和用戶友好設(shè)計

幫助半導(dǎo)體行業(yè)的樣品制備更加簡便高效

全新界面

用戶友好的軟件操作體驗

配備直觀的行業(yè)標準圖形用戶界面

軟件功能模塊高度整合,輕松上手

無論是專家還是新手,都能擁有友好的操作體驗

全新體驗

全自動TEM樣品制備流程

蔡司雙束電鏡 Crossbeam 550 Samplefab

提供了全自動解決方案

實現(xiàn)無人值守的多點位TEM薄片制備

旨在優(yōu)化工作流程,一位操作員即可控制多臺設(shè)備

提高生產(chǎn)力并確保樣品質(zhì)量



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