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超低暗電流高性能近紅外硅基光電探測器研究獲進(jìn)展
2020年10月23日 11:23:20 來源:物理研究所 點(diǎn)擊量:4711

近日,中國科學(xué)院物理研究所/北京凝聚態(tài)物理國家研究中心清潔能源實(shí)驗(yàn)室研究人員通過在硅襯底上制備納米級的Au薄膜和ITO電極(圖1),在硅基肖特基光電探測器研究方面取得進(jìn)展。

  【化工儀器網(wǎng) 科技前沿】 以光為信息載體實(shí)現(xiàn)通信的光通信技術(shù),憑借優(yōu)異的速度傳輸性能和強(qiáng)大的信息容量成為現(xiàn)代社會z重要的技術(shù)之一。其中硅光子學(xué),與成熟的互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)制造工藝兼容,并且伴隨著各類有源、無源的硅基光子器件的實(shí)現(xiàn)逐漸成為短程光通信中z具前景的技術(shù)。執(zhí)行光電信號轉(zhuǎn)換的光電探測器是光電鏈路的基本組成部分之一,雖然硅基光電探測器廣泛應(yīng)用于可見光范圍(0.4-0.7μm),但通訊窗口1.31μm和1.55μm的近紅外光子能量并不足以克服Si帶隙(1.12 eV)誘導(dǎo)光生電流,因此如何實(shí)現(xiàn)硅基探測器1.1μm以上的近紅外探測仍然是發(fā)展單片光電集成技術(shù)所面臨的難題。近年來,硅基肖特基二極管基于獨(dú)特的內(nèi)光電發(fā)射機(jī)制備受關(guān)注,它能在室溫下探測到能量低于硅帶隙的光,且材料結(jié)構(gòu)和制造工藝簡單廉價,有可能滿足純硅近紅外光電探測器的需要。然而傳統(tǒng)的金屬-硅結(jié)構(gòu)探測器存在響應(yīng)低的缺陷,用透明導(dǎo)電玻璃(ITO)代替?zhèn)鹘y(tǒng)金屬可以有效改善器件響應(yīng)度,但也面臨暗電流過大的問題,嚴(yán)重影響探測器的靈敏度。如何保證探測器對所需波長有響應(yīng)并且有足夠的響應(yīng),同時進(jìn)一步降低器件暗電流提升其靈敏度,是實(shí)現(xiàn)高性能近紅外硅基探測器的關(guān)鍵。
 
  近日,中國科學(xué)院物理研究所/北京凝聚態(tài)物理國家研究中心清潔能源實(shí)驗(yàn)室研究人員通過在硅襯底上制備納米級的Au薄膜和ITO電極(圖1),在硅基肖特基光電探測器研究方面取得進(jìn)展。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,高功函數(shù)Au的加入有效提高了肖特基勢壘高度從而抑制了器件暗電流,-1V下的暗電流密度為3.7×10-7A/cm2,比無Au插入的ITO/n-Si器件暗電流密度降低了7000多倍,±1V下的整流比高達(dá)1.5×108,這是硅基肖特基紅外探測器目前所報道的z好結(jié)果(圖2)。同時基于Au是延展性z好的金屬,進(jìn)一步減小中間插入層Au的厚度,結(jié)果顯示2nm Au插入層能在保障器件暗電流性能的前提下明顯地提升響應(yīng)度,從而得到更高的光/暗電流比,大幅改善硅基肖特基光電探測器的整體性能(圖3)。該工作作為一種具有低暗電流密度的硅基紅外光電探測器將為實(shí)現(xiàn)光通信中單片集成純硅光電探測器提供重要借鑒,期待未來在可見光至1.55μm甚至更長波段的光譜探測方面有重要應(yīng)用。
 
  該研究結(jié)果近日以Hybrid Nano-Scale Au with ITO structure for High-Performance Near-Infrared Silicon-Based Photodetector with ultralow dark current為題發(fā)表在Photonics Research上。相關(guān)工作得到了國家自然科學(xué)基金的支持。
 
圖1. ITO/Au/n-Si 肖特基光電探測器工藝流程示意圖
 
  圖2. (a)線性坐標(biāo)(b)半對數(shù)坐標(biāo)下0nm和6nm Au肖特基光電探測器暗態(tài)室溫J-V特性(c)6nm Au探測器J-V溫度依賴特性(d)Ln(J/T2)和1000/T關(guān)系圖(e)1310 nm(f)1064 nm激光下室溫光、暗態(tài)J-V特性。
 
  圖3. (a) 2-6nm Au肖特基光電探測器暗態(tài)室溫J-V特性(b) 0-6nm Au肖特基光電探測器Ln(J/T2)和1000/T關(guān)系圖(c) 零偏壓下1100-1700nm器件光響應(yīng) (d) 1310nm激光下器件光電流隨偏壓變化(f)1310nm激光下器件-1V下的暗電流、光電流以及光/暗電流之比。
 
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