TX 2000 全反射X熒光光譜儀
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 北京利曼科技有限公司
- 品牌 GNR/津鈉
- 型號 TX 2000
- 產(chǎn)地 意大利
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2024/3/6 9:19:06
- 訪問次數(shù) 13247
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價格區(qū)間 | 100萬-150萬 | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
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儀器種類 | 臺式/落地式 | 應用領域 | 綜合 |
TXRF(全反射X熒光)分析原理是基于X熒光能譜法,但與X射線能譜形成對比的是,傳統(tǒng)能譜采用原級X光束以45°角轟擊樣品,而TXRF采用毫弧度的臨界角(接近于零度角)入射。由于采用此種近于切線方向的入射角,原級X光束幾乎可以全部被反射,照射在樣品表面后,可以很大程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發(fā)生,同時減小了載體的背景和噪聲,亦可減少樣品使用量。
TX2000 將全反射和傳統(tǒng)的能量色散集成在同一臺儀器上,創(chuàng)新光學編碼器的步進電機,角度測量,軟件控制Mo/W靶可自由切換,采用高分辨、低背景的帕爾貼控溫硅漂移檢測器。
全反射X熒光光譜儀應用范圍
TX2000 可檢測從鈉Na到钚Pu所有元素含量,可進行痕量或超痕量元素分析(ppt或pg),廣泛的應用在環(huán)境分析(水、灰塵、沉積物、大氣懸浮物),制藥分析(生物體液和組織樣品中的有害元素),法醫(yī)學(微小證據(jù)分析),化學純度分析(酸、堿、鹽、溶劑、水、超純試劑),油品分析(原油、輕質(zhì)油、燃料油),染料分析(墨水、油漆、粉末),半導體材料分析(揮發(fā)相分解),核材料工業(yè)(放射性元素分析)。
全反射X熒光光譜儀主要特點
1、單內(nèi)標校正,有效簡化了定量分析,無基體影響;
2、對于任何基體的樣品可單獨進行校準和定量分析;
3、多元素實時分析,可進行痕量和超痕量分析;
4、不受樣品的類型和不同應用需求影響;
5、*的液體或固體樣品的微量分析,分析所需樣品量??;
6、優(yōu)良的檢出限水平,元素分析范圍從鈉覆蓋到钚;
7、動態(tài)線性范圍;
8、無需任何化學前處理,無記憶效應;
9、非破壞性分析,運行成本低廉。
根據(jù)分光系統(tǒng)的不同,XRF光譜儀主要有波長色散型(WDXRF)和能量色散型(EDXRF)兩種,二者結(jié)構(gòu)示意如下圖:

