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日立分析儀器(上海)有限公司

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Nanocalc 系列膜厚測量儀

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  北京征程創(chuàng)拓科技有限公司(征程科技)于2008年在北京創(chuàng)立,是面向中國用戶提供優(yōu)質的光電產(chǎn)品及服務的代理專家,將面向客戶的技術型服務作為自己的立足之本,并把它貫徹到各個環(huán)節(jié)。
 
  公司崇尚簡單、和諧的企業(yè)文化,公司為每一個有志向的員工提供一個施展才華的舞臺,尊重每個人的創(chuàng)造性和工作熱情,收獲屬于做出奉獻的人!
 
  征程科技視聲譽為公司的生命,始終堅持“潛心做事、用心做人”的經(jīng)營理念,堅信“一個正直、勤奮、堅忍不拔、恪守承諾的員工團隊,是為客戶提供優(yōu)質服務的基礎。
 
  目前公司代理的業(yè)務涉及美國、加拿大、歐洲和日本等國家和地區(qū)。

飛秒激光器,量子級聯(lián)激光器,單光子計數(shù)器,電光調制器,微型光譜儀,特種光纖,皮秒激光器,寬帶光源,雙光子源,光纖激光器,光柵

Nanocalc系列膜厚測量儀的原理:

利用白光干涉測量法的原理,NanoCalc-2000用一個寬光譜的光源來測得不同波長的反射數(shù)據(jù),由于反射率n和消光系數(shù)k隨膜厚的不同而變化,NanoCalc-2000根據(jù)這一特性來進行曲線擬合從而求得膜厚。在NanoCalc-2000中,不同類型材料的相應參數(shù)通過不同的模型來描述,從而保證了不同類型材料膜厚測量的準確性。

Nanocalc系列膜厚測量儀的特點:

  • UV/VIS/NIR高分辨率的配置
  • 測量準確度在1nm,精度在0.1nm
  • 可測量4層薄膜的任意3層
  • 薄膜測量zui小可至10nm,zui大可至400um
  • 可測量zui小1nm厚的透明金屬層
  • 提供用于復雜外形材料測量的試驗臺及附件
  • 對表面缺陷和光滑度不敏感
  • 龐大的材質數(shù)據(jù)庫,保證各種材料的精確測量

NanoCalc-2000-UV/VIS/NIR膜厚測量儀的技術參數(shù):

 

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