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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>無損檢測(cè)>超聲波探傷儀>美泰MUT520B 數(shù)字式超聲波探傷儀

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美泰MUT520B 數(shù)字式超聲波探傷儀

參考價(jià) 17
訂貨量 ≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 成都祺鋒科技有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào) 美泰MUT520B
  • 產(chǎn)地 北京
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2017/9/19 21:12:34
  • 訪問次數(shù) 401

聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


成都祺鋒科技有限公司,坐落于美麗的鵑城---成都郫縣德源(菁蓉小鎮(zhèn)),公司至成立以來立足于中國專業(yè)的理化分析檢測(cè)設(shè)備銷售與售后服務(wù),公司立足于以客戶為中心,以檢測(cè)行業(yè)的發(fā)展方向?yàn)榧喝?,打造專業(yè)的銷售、售后服務(wù)團(tuán)隊(duì)。
 
  公司主要銷售理化無損檢測(cè)設(shè)備,經(jīng)營范圍包括

材料分析系列:火花直讀光譜儀、手持X熒光光譜儀、高頻紅外碳硫分析儀等。

試驗(yàn)機(jī)系列:電液伺服*試驗(yàn)機(jī)、液壓*試驗(yàn)機(jī)、沖擊試驗(yàn)機(jī)等。

硬度計(jì)系列:里氏硬度計(jì)、洛氏硬度計(jì)、布氏硬度計(jì)、顯微硬度計(jì)等。

金相檢測(cè)設(shè)備:金相顯微鏡、金相設(shè)備(金相切割機(jī)、金相拋光機(jī)、金相磨樣機(jī))。

無損檢測(cè)系列:超聲波探傷儀、紅外測(cè)溫儀、紅外熱成像儀、超聲波測(cè)厚儀、粗糙度儀、

              渦流探傷儀、工業(yè)內(nèi)窺鏡、鍍層測(cè)厚儀等。

測(cè)量檢測(cè)設(shè)備:三坐標(biāo)檢測(cè)儀、影像測(cè)量?jī)x、高度測(cè)量?jī)x、復(fù)合型激光掃描儀等。
 
  公司產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于機(jī)械、電子、航空航天、*、石油石化、鑄造鍛造、科研院校等眾多行業(yè)和領(lǐng)域,同時(shí)為您提供與試驗(yàn)儀器設(shè)備相關(guān)的各種配件和配套設(shè)施,我公司擁有具有多年行業(yè)豐富經(jīng)驗(yàn)的售前售后服務(wù)工程師,為新老客戶提供*Z全面的產(chǎn)品知識(shí)培訓(xùn)和設(shè)備的安裝、調(diào)試、培訓(xùn),受到用戶和市場(chǎng)的*肯定和歡迎。
 
  成都祺鋒科技堅(jiān)持“恒以致遠(yuǎn)  信以興邦”的企業(yè)精神和“專業(yè)專注、誠信服務(wù)”的經(jīng)營理念,以“竭盡所能  滿足用戶”為目標(biāo),為廣大新老用戶提供技術(shù)*、性能穩(wěn)定的檢測(cè)分析設(shè)備和優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。

  

主要經(jīng)營便攜式電火花直讀光譜儀/臺(tái)式電火花直讀光譜儀/手持式熒光光譜儀/碳硫分析儀/布氏硬度計(jì)/洛氏硬度計(jì)/維氏硬度計(jì)/里氏硬度計(jì)/金相顯微鏡、磨樣機(jī)、拋光機(jī)、切割機(jī)、金相耗材等/探傷儀/粗糙度儀/超聲波測(cè)厚儀/萬能試驗(yàn)機(jī)/沖擊試驗(yàn)機(jī)/圓度儀/輪廓儀/影像測(cè)量?jī)x/紅外測(cè)溫儀等等

技術(shù)參數(shù)
檢測(cè)范圍:(0~6000)mm(鋼中、縱波)
 聲速范圍:(1000~15000)m/s
動(dòng)態(tài)范圍:≥36dB
垂直線性誤差:≤3.0%
水平線性誤差:≤0.2%
分 辨 力:>40dB(5P14)
靈敏度余量:>60dB(深200mmФ2平底孔)
數(shù)字抑制:(0~80)%,不影響線性與增益
電噪聲電平:≤10%
探頭類型:直探頭、斜探頭、雙晶探頭、穿透探頭
閘    門:進(jìn)波門、失波門;單閘門讀數(shù)、雙閘門讀數(shù)
 報(bào)    警:蜂鳴報(bào)警,LED燈報(bào)警
 電    源:直流(DC)9V
待機(jī)時(shí)間:>10小時(shí)
外型尺寸:263×170×61(mm)
環(huán)境溫度:(-10~50)℃
相對(duì)濕度:(20~95)%RH
脈沖幅度:300V、500V、700V分級(jí)選擇,適用探頭范圍廣
脈沖寬度:在(0.1~0.512)μs范圍內(nèi)連續(xù)調(diào)節(jié),以匹配不同頻率的探頭
探頭阻尼:100Ω、200Ω、400Ω可選,滿足靈敏度及分辨率的不同工作要求
硬件實(shí)時(shí)采樣:高分辨率10位AD轉(zhuǎn)換器,采樣速度160MHz,波形高度保真
檢波方式:正半波、負(fù)半波、全波、射頻檢波
濾波頻帶:(0.5~10)MHz內(nèi)可根據(jù)探頭頻率全自動(dòng)匹配,無需手動(dòng)設(shè)置
閘門讀數(shù):?jiǎn)伍l門和雙閘門讀數(shù)方式可選;閘門內(nèi)峰值讀數(shù)
總增益量:110 dB(設(shè)有0.1dB、1dB、2dB、6dB步進(jìn)值)
插頭插座:BNC/LEMO可選
注:以上指標(biāo)是在探頭頻率為2.5MHz、檢波方式為全波的情況下所測(cè)得。

功能特色


閘門報(bào)警
  門位、門寬、門高任意可調(diào);B閘門可選擇設(shè)置進(jìn)波報(bào)警或失波報(bào)警;閘門內(nèi)蜂鳴聲和LED燈(吵噪環(huán)境中LED燈報(bào)警非常有效)報(bào)警及關(guān)閉。

數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
  儀器內(nèi)置海量存儲(chǔ)器,數(shù)據(jù)和文件將不會(huì)因儀器斷電丟失,存儲(chǔ)內(nèi)容包括通道參數(shù)、波形圖片和錄像文件。支持50組探傷參數(shù)通道,可預(yù)先調(diào)校好各類探頭和儀器的組合參數(shù),自由設(shè)置各行業(yè)探傷標(biāo)準(zhǔn);可存儲(chǔ)1000幅探傷回波信號(hào)及參數(shù),實(shí)現(xiàn)存儲(chǔ)、讀出及通過USB接口傳輸。
實(shí)時(shí)時(shí)鐘
  實(shí)時(shí)探傷日期、時(shí)間的跟蹤記錄,并記錄存儲(chǔ)
通訊接口
   USB2.0高速通訊傳輸接口,也可使用軟件通過USB進(jìn)行數(shù)據(jù)的上傳和下載。
電池模塊
   高容量鋰電池模塊便于拆裝,可獨(dú)立充電,也可在線充電,連續(xù)工作時(shí)間達(dá)到10小時(shí)以上。

探傷功能
探傷標(biāo)準(zhǔn):內(nèi)置各行業(yè)常用探傷標(biāo)準(zhǔn),直接調(diào)用,方便、快捷
焊縫圖示:可設(shè)置焊縫形態(tài)參數(shù),探傷中直觀顯示焊縫圖和缺陷在焊縫中的位置
自動(dòng)校準(zhǔn):探頭零偏和探頭角度(K值)自動(dòng)校準(zhǔn)功能;聲速自動(dòng)測(cè)量功能
波峰記憶:實(shí)時(shí)檢索缺陷zui高波,記錄缺陷zui大值
缺陷定位:實(shí)時(shí)顯示缺陷水平、深度(垂直)、聲程位置
缺陷定量:缺陷當(dāng)量dB值實(shí)時(shí)顯示
缺陷定性:通過回波包絡(luò)波形,方便人工經(jīng)驗(yàn)判斷
曲面修正:用于曲面工件探傷,可實(shí)時(shí)顯示缺陷周向位置
數(shù)模兩用:可不做AVG曲線,采用底波增益法測(cè)dB值,實(shí)現(xiàn)數(shù)模兩用,便于操作
Φ值計(jì)算:直探頭鍛件探傷時(shí)找到缺陷峰值回波后自動(dòng)計(jì)算、顯示缺陷當(dāng)量尺寸
DAC/AVG:曲線自動(dòng)生成,取樣點(diǎn)不受限制,并可進(jìn)行補(bǔ)償與修正。曲線隨增益自動(dòng)浮動(dòng)、隨聲程自動(dòng)擴(kuò)展、隨延時(shí)自動(dòng)移動(dòng)。能顯示任意孔徑的AVG曲線
增   益:總增益量110dB,設(shè)0.1dB、1dB、2dB、6dB步進(jìn)值,*的全自動(dòng)增益調(diào)節(jié)及掃查增益功能,使探傷既快捷又準(zhǔn)確
AWS D1.1: 美國焊接學(xué)會(huì)標(biāo)準(zhǔn),為各類AWS焊縫檢測(cè)應(yīng)用提供一個(gè)動(dòng)態(tài)反射體“缺陷定級(jí)”??杀苊馐止び?jì)算,提高檢測(cè)效率
裂紋測(cè)深:利用端點(diǎn)衍射波自動(dòng)測(cè)量、計(jì)算裂紋深度
門內(nèi)展寬:放大回波細(xì)節(jié),便于回波分析
連續(xù)記錄:實(shí)時(shí)記錄、存儲(chǔ)、回放波形
波形凍結(jié):凍結(jié)屏幕上顯示的波形,便于缺陷分析
回波編碼:以不同顏色顯示1~6次回波顯示區(qū),更好的區(qū)分一次波、二次波,便于判斷缺陷位置
普通B掃描:實(shí)時(shí)掃查、橫截面顯示,使探測(cè)結(jié)果更直觀



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