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老化箱_252kv高壓直流絕緣子熱破壞試驗(yàn)室

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上海長肯試驗(yàn)設(shè)備(集團(tuán))有限公司整合了國內(nèi)近50年來環(huán)境耐候老化試驗(yàn)行業(yè)的發(fā)展精髓,專注于環(huán)境與可靠性試驗(yàn)設(shè)備訂制產(chǎn)品個(gè)性化服務(wù)的制造、研發(fā),致力于為客戶提供具有設(shè)計(jì)安全、環(huán)保、節(jié)能、品質(zhì)可靠的環(huán)境與可靠性試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品及行業(yè)性的解決方案,幫助客戶創(chuàng)造較大價(jià)值。

伴隨著環(huán)境模擬試驗(yàn)設(shè)備及技術(shù)的發(fā)展,在實(shí)踐和解決理論問題的過程中,吸收了多門學(xué)科(熱學(xué)、力學(xué)、電學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)和光學(xué)等)和多項(xiàng)技術(shù)(制冷、真空、空調(diào)、自動(dòng)控制、計(jì)量等)的相關(guān)理論和方法,形成了一個(gè)獨(dú)立的技術(shù)理論體系——環(huán)境模擬技術(shù)。環(huán)境模擬技術(shù)是一門新的邊緣科技,主要研究各種自然環(huán)境及誘發(fā)環(huán)境的人工再現(xiàn)技術(shù)和在環(huán)境模擬狀態(tài)下的試驗(yàn)技術(shù)。環(huán)境模擬設(shè)備和環(huán)境試驗(yàn)技術(shù)經(jīng)歷了由單參數(shù)模擬到多參數(shù)模擬,從靜態(tài)模擬到動(dòng)態(tài)模擬,從產(chǎn)品試驗(yàn)到人機(jī)系統(tǒng)環(huán)境試驗(yàn)的發(fā)展歷程。它當(dāng)前的發(fā)展方向是:建立整機(jī)多參數(shù)綜合動(dòng)態(tài)環(huán)境模擬試驗(yàn),進(jìn)行多參數(shù)綜合動(dòng)態(tài)環(huán)境試驗(yàn)和人機(jī)系統(tǒng)綜合環(huán)境動(dòng)態(tài)試驗(yàn),以及進(jìn)行虛擬試驗(yàn)技術(shù)的研究和應(yīng)用。

公司擁有著一大批各類人才和專家、教授,強(qiáng)大的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備成熟的環(huán)試研制手段著國內(nèi)環(huán)試技術(shù)的發(fā)展方向;公司核心技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域:地面環(huán)境模擬設(shè)備、空中環(huán)境模擬設(shè)備及水中(海洋)環(huán)境模擬設(shè)備。其中地面環(huán)境模擬設(shè)備主要有低溫環(huán)境模擬、高溫環(huán)境模擬、濕熱環(huán)境模擬、太陽輻照環(huán)境模擬、沙塵環(huán)境模擬、雨淋環(huán)境模擬、浸漬環(huán)境模擬、酸性環(huán)境模擬、爆炸性大氣環(huán)境模擬、積水/凍雨環(huán)境模擬和霉菌環(huán)境模擬等設(shè)備;空中環(huán)境模擬設(shè)備主要有飛機(jī)環(huán)境控制系統(tǒng)空中環(huán)境模擬試驗(yàn)和飛機(jī)發(fā)動(dòng)機(jī)高空性能試驗(yàn),主要涉及了溫度、濕度、低氣壓、振動(dòng)、風(fēng)洞(風(fēng)速)、熱真空、空間輻照、紫外線綜合輻照等;水中(海洋)環(huán)境模擬設(shè)備主要有深水模擬、綜合鹽霧腐蝕、溫度、濕熱、綜合輻照等。

主營設(shè)備:溫度速變試驗(yàn)設(shè)備、溫度沖擊試驗(yàn)設(shè)備、高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備、太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備、淋雨試驗(yàn)設(shè)備、沙塵試驗(yàn)設(shè)備、臭氧綜合老化試驗(yàn)設(shè)備以及步入式綜合性能試驗(yàn)設(shè)備和高風(fēng)速淋雨試驗(yàn)設(shè)備等氣候環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備;滿足較早版的GJB、GB、GB/T、IEC、ISO、EN、MIL-STD、SAE、ASTM、ISTA、JIS、IPC、JEDEC、GM、NISSAN等各種、國內(nèi)環(huán)境及可靠性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)要求.

面向未來,全體【長肯】人胸懷“創(chuàng)百年大業(yè)”之志,傳承和弘揚(yáng)“誠實(shí)守信、不斷超越、追求*”的精神,堅(jiān)持為客戶的可持續(xù)發(fā)展貢獻(xiàn)自己的技術(shù)、產(chǎn)品與智慧,追求無止境、與時(shí)俱進(jìn)創(chuàng)未來!

 

 

 

溫度速變試驗(yàn)設(shè)備、溫度沖擊試驗(yàn)設(shè)備、高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備、太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備、淋雨試驗(yàn)設(shè)備、沙塵試驗(yàn)設(shè)備、臭氧綜合老化試驗(yàn)設(shè)備以及步入式綜合性能試驗(yàn)設(shè)備和高風(fēng)速淋雨試驗(yàn)設(shè)備等氣候環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 化工,能源,電子

前言:(老化箱_252kv高壓直流絕緣子熱破壞試驗(yàn)室

基于中國幅員遼闊,地域面積廣闊,資源不均衡,導(dǎo)致目前我國輸電線路及聯(lián)網(wǎng)(并網(wǎng)),需要跨區(qū)域、遠(yuǎn)距離的傳輸;所以超高壓直流輸電事業(yè)的發(fā)展也異常的迅速。隨著近年來輸電線路電壓等級(jí)的不斷提高,直流絕緣子的老化問題日趨嚴(yán)峻。

直流絕緣子在在電力系統(tǒng)中應(yīng)用很廣泛,尤其在直流輸電工程中的應(yīng)用。用于支持帶電導(dǎo)體并使其絕緣的電器元件。一般由絕緣件(如瓷件)和金屬附件(如鋼腳、鐵帽、法蘭等)用膠合劑膠合或機(jī)械卡裝而成。屬于外絕緣,在大氣條件下工作。架空輸電線路、發(fā)電廠和變電所的母線和各種電氣設(shè)備的外部帶電導(dǎo)體均須用絕緣子支持,并使之與大地(或接地物)或其他有電位差的導(dǎo)體絕緣。由于其工作環(huán)境一直處于大氣條件,那么絕緣子本身的耐氣候老化性能也就成了電力部門非常關(guān)心的重點(diǎn)問題。長期老化性能的優(yōu)劣與運(yùn)行條件(如電應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力和熱應(yīng)力、大氣自然環(huán)境溫濕度、紫外、臭氧)以及絕緣子內(nèi)在材質(zhì)有很大關(guān)系。在模擬絕緣子實(shí)際工作環(huán)境下的老化性能綜合試驗(yàn)方面主要包括:大氣環(huán)境的污垢(防塵試驗(yàn))、降雨(淋雨試驗(yàn))、太陽輻射(光照老化試驗(yàn))、放電(局放試驗(yàn))、高溫高濕(高低溫交變濕熱試驗(yàn))、大氣中腐蝕性成分老化(復(fù)合鹽霧腐蝕試驗(yàn))等。老化箱_252kv高壓直流絕緣子熱破壞試驗(yàn)室綜合解決上述問題。

對(duì)于瓷絕緣子材質(zhì)在直流電壓下的老化成因,有人認(rèn)為,瓷質(zhì)中的堿金屬離子,特別是Na’離子在遷移過程中由于獲得電子而形成體積比離子體積大兩倍的原子,局部膨脹應(yīng)力致使絕緣子破裂(主要出現(xiàn)在絕緣子頭部);另外一種觀點(diǎn)認(rèn)為.離子遷移造成了瓷件內(nèi)部電阻率不同的導(dǎo)電層,導(dǎo)致不均勻的電場分布,長時(shí)間作用后而出現(xiàn)擊其穿。為了驗(yàn)證其在運(yùn)行狀態(tài)下的老化成因,電氣制造商必須對(duì)其進(jìn)行自然大氣環(huán)境中的工作狀態(tài)的一種模擬測試。


滿足標(biāo)準(zhǔn)

  1. GB/T 16927.1-2011  高電壓試驗(yàn)技術(shù) *部分:一般試驗(yàn)要求

  2. IEC 60-1:1989

  3. GB/T11158-2006高溫箱技術(shù)條件

  4.    4.GB/T 19443-2004    標(biāo)稱電壓高于1000V的架空線路用絕緣子-直流系統(tǒng)用瓷或玻璃絕緣子元件-定義、試驗(yàn)方法和接收準(zhǔn)則

  5. 5.IEC 61325:1995, MOD

主要技術(shù)參數(shù)

  • 型號(hào): ZWS-28型    

  • 恒溫箱內(nèi)部尺寸(D×W×H): 2000×3000×4600 ㎜

  • 溫度范圍:   RT+10℃~200℃

  • 溫度均勻度:   ≤ 5℃  (200℃內(nèi),空載時(shí))

  • 溫度波動(dòng)度:   ±0.5℃ (空載時(shí))

  • 溫度偏差:   ≤±2℃

  • 時(shí)間設(shè)定范圍:   0~9999 小時(shí)、分鐘、秒

  • 數(shù)量:2套

  • 直流高壓產(chǎn)生測量系統(tǒng):

輸出電壓:     0~+300kV  DC

電壓測量精度: △≤1%

  電壓脈動(dòng)系數(shù): δ≤1.5~3%

z大負(fù)載電流: Imax=100mA

電流測量精度: δ≤1%(注:總電流)

連續(xù)運(yùn)行時(shí)間: T≥180天

  • 絕緣子離子遷移測量系統(tǒng)

被測試品數(shù)量:   N≥54只    (H=300mm Φ=320~600mm)

體電阻測量:     R≥1010Ω    測量精度≤±3%

遷移電荷量測量: Q∶0~5C     測量精度≤±1%

溫度測量范圍:   室溫~200℃  測量精度≤±1℃

溫度控制的穩(wěn)定性和均勻性偏差:±3~5℃

  • 熱電破壞試驗(yàn)測量系統(tǒng):

試品數(shù)量:      N=56只         (H=300mm Φ=320~600mm)

  體電流測量:    0.001μA~1mA     測量精度≤±2%

溫度測量范圍:  室溫~200℃        測量精度≤±1℃

  溫度控制的穩(wěn)定性和均勻性偏差:±3~5℃







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