TIC 3X Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀

Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀

    三離子束切割儀幾乎適用于任何材質樣品，獲得高質量切割截面。

    使用Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀進行離子束切割是一項適用于切割硬的，軟的，多孔的，熱敏感的，脆的和/或非均質多相復合型材料，獲得高質量切割截面，以適宜于掃描電子顯微鏡（SEM）微區(qū)分析（能譜分析EDS，波譜分析WDS，俄歇分析Auger，背散射電子衍射分析EBSD）和原子力顯微鏡（AFM）分析。

    Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀這一技術幾乎是*一個適用于任何材質樣品，獲得高質量切割截面的解決方法。使用該技術對樣品進行處理，樣品受到形變或損傷的可能性zui低，可暴露出樣品內(nèi)部真實的結構信息。 Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀在技術上超越了傳統(tǒng)的離子束拋光切割設備。它使用三離子束，并可裝配冷凍樣品臺和三樣品臺，可以高速率離子束轟擊樣品，得到寬且深的切割區(qū)域，獲得一個高質量的平整的切割截面，幾乎適用于任何材料，整個樣品處理過程快速簡便。http://www.yetech.hk/