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USPM-RU-W近紅外顯微分光測(cè)定儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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西努光學(xué)創(chuàng)建于2003 年,主營(yíng)工業(yè)顯微鏡及制樣設(shè)備、鏡片測(cè)定設(shè)備,高速攝像系統(tǒng)、工業(yè)內(nèi)窺鏡、機(jī)器視覺等工業(yè)及科研應(yīng)用的檢測(cè)設(shè)備及系統(tǒng)集成。
西努光學(xué)秉承“以光學(xué)為核心,為客戶提供解決方案”的經(jīng)驗(yàn)思路,經(jīng)過16年的努力,成為眾多企業(yè)、高??蒲袉挝惶峁└鞣N專業(yè)化的光學(xué)系統(tǒng)解決方案。并于2012 年導(dǎo)入SAP 管理系統(tǒng),通過系統(tǒng)資源整合,為客戶提供更優(yōu)質(zhì)、快捷的專業(yè)化服務(wù)。
2016 年,我們積極引進(jìn)檢測(cè)設(shè)備的同時(shí)導(dǎo)入制樣等配套設(shè)備以豐富我們實(shí)驗(yàn)室平臺(tái),以更好的為客戶提供現(xiàn)場(chǎng)體驗(yàn),從微米到納米滿足客戶從制樣到結(jié)果分析的一站式體驗(yàn)服務(wù)。



奧林巴斯顯微鏡,奧林巴斯工業(yè)內(nèi)窺鏡,iX高速攝像機(jī),標(biāo)樂金相制樣設(shè)備,威爾遜硬度計(jì),navitar鏡頭,日立掃描電鏡,加拿大WDI光學(xué)設(shè)備

奧林巴斯的USPM-RU-W近紅外顯微分光測(cè)定儀可以高速&高精細(xì)地進(jìn)行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長(zhǎng)的分光測(cè)定。由于其可以很容易地測(cè)定通常的分光光度計(jì)所不能測(cè)定的細(xì)微區(qū)域、曲面的反射率,因此zui適用于光學(xué)元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。

實(shí)的測(cè)定功能
使用一臺(tái)即可進(jìn)行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測(cè)定。

◆測(cè)定反射率
測(cè)定以物鏡聚光φ17~70μm的微小點(diǎn)的反射率。


◆測(cè)定膜厚
活用反射率數(shù)據(jù),測(cè)定約50nm~約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。


◆測(cè)定物體顏色
根據(jù)反射率數(shù)據(jù)顯示XY色度圖、L*a*b色度圖及相關(guān)數(shù)值。


◆測(cè)定透過率
從受臺(tái)下部透過φ2mm的平行光,測(cè)定平面樣品的透過率。(選配)


◆測(cè)定入射角為45度的反射率
從側(cè)面向45度面反射φ2mm的平行光,測(cè)定其反射率。(選配)



域的高精度&高速測(cè)定

◆實(shí)現(xiàn)高速測(cè)定
使用平面光柵及線傳感器進(jìn)行全波長(zhǎng)同時(shí)分光測(cè)定,從而實(shí)現(xiàn)高速測(cè)定。


◆zui適用于測(cè)定細(xì)小部件、鏡片的反射率
新設(shè)計(jì)了可以在φ17~70μm的測(cè)定區(qū)域中進(jìn)行非接觸測(cè)定的物鏡。通常的分光光度計(jì)不能進(jìn)行測(cè)定的細(xì)小電子部件或鏡片等的曲面,也可以實(shí)現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測(cè)定。


◆測(cè)定反射率時(shí),不需要背面防反射處理
將物鏡與環(huán)形照明組合,不需要進(jìn)行被檢測(cè)物背面的防反射處理,就可測(cè)定zui薄0.2mm的反射率*。


◆可選擇的膜厚測(cè)定方法
USPM-RU-W近紅外顯微分光測(cè)定儀根據(jù)測(cè)定的分光反射率數(shù)據(jù)進(jìn)行單層膜或多層膜的膜厚解析??梢愿鶕?jù)用途選擇*的測(cè)定方法。

:規(guī)格

 

反射率測(cè)定 透過率測(cè)定*1 45度反射測(cè)定*1
名稱 近紅外顯微分光測(cè)定儀 近紅外顯微分光測(cè)定儀用 
透過測(cè)定選配件
近紅外顯微分光測(cè)定儀用 
45度反射測(cè)定選配件
型號(hào) USPM-RU-W
測(cè)定波長(zhǎng) 380~1050nm
測(cè)定方法 對(duì)參照樣品的比較測(cè)定 對(duì)*基準(zhǔn)的透過率測(cè)定 對(duì)參照樣品的比較測(cè)定
測(cè)定范圍 參照下列對(duì)物鏡的規(guī)格 約ø2.0mm
測(cè)定 
再現(xiàn)性(3σ)*2
反射率測(cè)定 使用10×、20×物鏡時(shí) ±0.02[%]以下(430-1010nm)、 
±0.2[%]以下(上述以外)
±1.25[%]以下(430-1010nm)、 
±5.0[%]以下(左側(cè)記載除外)
使用40×物鏡時(shí) ±0.05[%]以下(430-950nm)、 
±0.5[%]以下(上述以外)

 

厚膜測(cè)定 ±1%  -
波長(zhǎng)顯示分解能 1nm
照明附件 鹵素?zé)艄庠础?JC12V 55W(平均壽命700h)
位移受臺(tái) 承載面尺寸:200(W)×200(D)mm   
承重:3 kg 
工作范圍:(XY) ±40mm, (Z)125mm
傾斜受臺(tái) 承載面尺寸: 140(W)×140(D)mm 
承重: 1 kg 
工作范圍:(XT) ±1°, (YT) ±1°
裝置質(zhì)量 主體:約26 kg(PC除外) 主體:約31 kg(PC除外)*3
控制電源箱:約6.7kg
裝置尺寸 主體部位:360(W)×446(D)×606(H)mm 主體部位:360(W)×631(D)×606(H)mm
控制電源箱:250(W)×270(D)×125(H)mm
電源規(guī)格 輸入規(guī)格:100-240V (110VA) 50/60Hz
使用環(huán)境 水平無振動(dòng)的場(chǎng)所 
溫度:15~30℃ 
濕度:15~60%RH(無結(jié)露)

*1 選件組件  *2 本社測(cè)定條件下的測(cè)定  *3 裝配透過率測(cè)定套件與45度反射測(cè)定套件的總重量為33kg。

對(duì)物鏡
型號(hào) USPM-OBL10X USPM-OBL20X USPM-OBL40X
倍率 10x 20x 40x
NA 0.12 0.24 0.24
測(cè)定范圍*4 70μm 34μm 17μm
工作距離 14.3mm 4.2mm 2.2mm
樣品的曲率半徑 ±5mm~ ±1mm~ ±1mm~

*4 點(diǎn)徑

 

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