TLP系列 高低溫恒溫測(cè)試箱

高低溫恒溫測(cè)試箱概述：

可程式高低溫試驗(yàn)箱適用于電子電工產(chǎn)品、儀器儀表、原材料、電子元件等高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)、低溫恒溫及儲(chǔ)存；可程式高低溫試驗(yàn)箱特別適用于光纖、晶體、精密電感、PCB、LCD等產(chǎn)品的高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)。

高低溫恒溫測(cè)試箱詳細(xì)資料：

特點(diǎn)： 

· 高低溫恒溫測(cè)試箱采用進(jìn)口按鍵式溫度控制器,專家PID算法,LCD顯示設(shè)定和測(cè)量溫度，溫度控制穩(wěn)定可靠,操作簡(jiǎn)單,程式編輯容易；

· 高低溫恒溫測(cè)試箱的送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，避免了氣流在箱內(nèi)流通死角，提高了產(chǎn)品溫度均勻度;

· 全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)+環(huán)保冷媒+機(jī)械式單級(jí)/復(fù)迭低溫回路系統(tǒng),制冷效果好,可靠性高;

· 完善的安全保護(hù)裝置,確保產(chǎn)品的運(yùn)行更加安全可靠;

· 可程式高低溫試驗(yàn)箱多樣的溫度控制器可供用戶選擇。

執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn) 

1. GB/T10589-1989 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
2. GB/T11158-1989 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3. GB/T10592-1989 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
4. GB/T2423.1-2001 IEC60068-2-1試驗(yàn)A規(guī)程: 低溫試驗(yàn)方法
5. GB/T2423.2-1989 IEC60068-2-2試驗(yàn)B規(guī)程: 高溫試驗(yàn)方法
6. GB/T2423.22-1987試驗(yàn)Nb溫度變化試驗(yàn)方法
7. GJB150.3-1986高溫試驗(yàn)
8. GJB150.4-1986低溫試驗(yàn)
9. IEC68-2-14 試驗(yàn)N

用途 

· 高低溫恒溫測(cè)試箱適用于電子電工產(chǎn)品、儀器儀表、原材料、電子元件等高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)、低溫恒溫及儲(chǔ)存；

· 高低溫恒溫測(cè)試箱特別適用于光纖、晶體、精密電感、PCB、LCD等產(chǎn)品的高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)。

高低溫恒溫測(cè)試箱主要參數(shù)介紹：

1.       溫度范圍：-70~150℃（范圍內(nèi)任選）/單獨(dú)高溫恒溫箱溫度上限可達(dá)300度。

2.       溫度偏差：≤±2.0℃

3.       溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃

4.       內(nèi)箱容積：50~1000L任選，可按要求定做尺寸

5.       采用進(jìn)口高精度溫度控制儀表（LED或LCD顯示，程序運(yùn)行與恒定運(yùn)行任選）

6.       箱體材料為全不銹鋼板或內(nèi)不銹鋼外冷板結(jié)構(gòu)

7.       采用進(jìn)口壓縮機(jī)制冷機(jī)組，其余主要制冷配件均為優(yōu)質(zhì)進(jìn)口件。

8.       設(shè)備配置多重保護(hù)系統(tǒng)，確保產(chǎn)品安全及設(shè)備的穩(wěn)定運(yùn)行