THICK800A 藝慈THICK800AX光無(wú)損測(cè)厚儀
- 公司名稱 深圳市藝慈儀器有限公司
- 品牌 SanX/三翔
- 型號(hào) THICK800A
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/1/9 20:24:01
- 訪問(wèn)次數(shù) 1031
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價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法:
1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T6462-2005
2、X-ray法(X射線法)。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T16921-2005
3、庫(kù)侖法,此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T4955-2005
藝慈THICK800AX光無(wú)損測(cè)厚儀原理
產(chǎn)生X射線的簡(jiǎn)單方法是用加速后的電子撞擊金屬靶。撞擊過(guò)程中,電子突然減速,其損失的動(dòng)能(其中的1%)會(huì)以光子形式放出,形成X光光譜的連續(xù)部分,稱之為制動(dòng)輻射。通過(guò)加大加速電壓,電子攜帶的能量增大,則有可能將金屬原子的內(nèi)層電子撞出。于是內(nèi)層形成空穴,外層電子躍遷回內(nèi)層填補(bǔ)空穴,同時(shí)放出波長(zhǎng)在0.1納米左右的光子。由于外層電子躍遷放出的能量是量子化的,所以放出的光子的波長(zhǎng)也集中在某些部分,形成了X光譜中的特征線,此稱為特性輻射。
藝慈THICK800AX光無(wú)損測(cè)厚儀測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
1.國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法
2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08
Coating Weight(mass)of metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence