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全自動三離子束拋光切割儀 EM TIC 3X

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切割儀

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廣州貝拓科學技術(shù)有限公司成立于2010年8月,是國家高業(yè),廣州科技小巨人企業(yè),并在廣東股權(quán)交易中心成功掛牌(股權(quán)代碼:892081),通過ISO9001-2015質(zhì)量體系認證和知識產(chǎn)權(quán)貫標認定體系,擁有近20項國家磚利。貝拓科學一直從事光譜分析儀器領(lǐng)域,自主研發(fā)儀器有光學接觸角測量儀,顯微拉曼光譜儀,表界面張力儀,白光干涉膜厚分析儀,陣列式紫外可見分光光度計,積分球式透反射率測試儀等。具備光學設(shè)計、機械設(shè)計、軟件編寫和算法編寫核心能力,和中山大學、廣州大學、華南師范大學有緊密的合作關(guān)系,并且是廣州大學物理與光電學院的長期實習基地。貝拓科學所研發(fā)生產(chǎn)的產(chǎn)品定位在國內(nèi)高水平,未來面向市場。

前臺.jpg

貝拓科學陪伴著科學家一起探索未知事件,“Touch the future”作為我們的口號,貝拓科學尊重以嚴謹?shù)目茖W理論為指導,為科學家提供有力的科研工具。我們默默堅持做前沿分析儀器的搬運工,陪伴科學家不斷成長。我們很榮幸作為一些有儀器生產(chǎn)廠家,例如:日本Hitachi,德國WITec,德國Bruker,英國OXFORD,美國ThermoFisher,Ametek旗下輸力強和普林斯頓,以及中國臺灣OtO等大電子儀器廠家的代理,一起為中國的科學家提供專業(yè)的服務(wù)。

 

我們的宗旨是為科學學提供更專業(yè),更貼心的服務(wù)。

我們的優(yōu)勢和專注點集中于材料測試方面,為了普惠科研工作者,我們還提供測試服務(wù),其中包括材料的結(jié)構(gòu)、元素分布、表面特征、物理化學特性以及光學、電學特性的分析。

材料分析領(lǐng)域代理品牌:

OXFORD(牛津)、FEI(賽默飛)、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI(日立)、OTO(中國臺灣超微光學)、WITec(威泰克)、BRUKER(布魯克)、普析、徠卡、本原納米等。

 

 

 

接觸角測量儀、在線測厚儀、光學膜厚儀、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀、拉曼電鏡、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀、熱分析、差示掃描熱儀

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 面議
儀器種類 金相切割機

全自動三離子束拋光切割儀 EM TIC 3X

幾乎任何材質(zhì)樣品都可獲得高質(zhì)量截面,在沒有任何變形或損傷的情況下揭開樣品內(nèi)部最真實結(jié)構(gòu)信息,在使用徠卡EM TIC3X之前,這類工作從未變得如此之簡單。

徠卡EM TIC 3X三離子束切割儀適宜處理軟/硬復合、帶有孔縫結(jié)構(gòu)、熱敏感性、脆性及非均質(zhì)樣品,獲得樣品截面,從而進行掃描電子顯微鏡(SEM),微區(qū)分析(EDS,WDS,Auger,EBSD)及原子力顯微鏡或掃描探針顯微鏡(AFM,SPM)檢測。

三離子束(分別獨立控制),冷凍樣品臺及多樣品臺,確保離子束對樣品處理高效,切割區(qū)域?qū)捛疑?,從而獲得高質(zhì)量截面切割結(jié)果。

全自動三離子束拋光切割儀 EM TIC 3X
 

為您帶來的優(yōu)勢

 

  

性能

*的三離子束系統(tǒng),可獲得佳的截面處理質(zhì)量,并可高效獲得寬且深的切割區(qū)域,大大降低工作時間。并可實現(xiàn)在一次處理過程中最多處理3個樣品。因此對有高通量需求的實驗室,徠卡EM TIC 3X是佳解決方案。

樣品托

多種多樣的樣品托,適合于各類尺寸樣品。

  

可裝配系統(tǒng)

根據(jù)您的樣品制備需要,可以有針對性地在徠卡EM TIC 3X上裝配一體化設(shè)計樣品臺-標準樣品臺,多樣品臺或冷凍樣品臺。

樣品TOPO結(jié)構(gòu)清晰可見

除了剖面切割,使用同一樣品托還可對樣品進行清潔及增強襯度的功能。

  

冷凍樣品臺

針對溫度敏感型樣品如橡膠或水溶性高分子聚合纖維等,可以使用冷凍樣品臺對樣品進行低溫下處理,獲得高質(zhì)量處理結(jié)果。樣品托和擋板的溫度都可達到-150° C。

 



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