TSD-80F-2P 皓天產(chǎn)銷溫度沖擊試驗(yàn)箱-高低溫沖擊測試艙

皓天產(chǎn)銷溫度沖擊試驗(yàn)箱-高低溫沖擊測試艙

 應(yīng)用范圍：
用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁、光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)及高分子材料之物理牲變化，測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機(jī)械的組件，都會(huì)用到，是各領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品測試的*的一項(xiàng)測試箱，用于耐高溫、耐低溫、耐濕熱循環(huán)檢測試驗(yàn)。

皓天設(shè)備冷熱沖擊試驗(yàn)箱型號與參數(shù)表：

技術(shù)參數(shù)

1、低溫沖擊可選擇溫度范圍：A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃（廠家還免費(fèi)配高溫至150度）
2、溫度偏差：±2℃
3、溫度波動(dòng)度：±0.5℃。 
4、溫度恢復(fù)時(shí)間：≤5min。 
5、溫度恢復(fù)條件：高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。
6、溫度沖擊轉(zhuǎn)移方式：采用氣動(dòng)驅(qū)動(dòng)。   
7、高溫室儲(chǔ)溫的升溫時(shí)間：30min (+25℃～+200℃)。 
8、低溫室儲(chǔ)溫的降溫時(shí)間：65min (+25℃～-75℃)。

皓天產(chǎn)銷溫度沖擊試驗(yàn)箱-高低溫沖擊測試艙

 符合標(biāo)準(zhǔn)：
《GB10592-89》高低溫箱技術(shù)條件；
《GB10586-93》濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
《GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》：低溫試驗(yàn)方法；
《GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》：高溫試驗(yàn)方法；
《GB/T2423.4-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》：交變濕熱試驗(yàn)方法；
《GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》：恒定濕熱試驗(yàn)方法。

產(chǎn)品特點(diǎn)

1、三箱式高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)分高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，測試樣品放置測試區(qū)*靜止，采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測試區(qū)，完成冷熱溫度沖擊測試；既可作冷熱沖擊試驗(yàn)箱使用又可以作單獨(dú)的高溫箱或單獨(dú)的低溫箱使用；　　
2、可由測試孔外加負(fù)載配線測試部件；
3、大型彩色LCD觸控對話式微電腦控制系統(tǒng)，操作簡單易懂，運(yùn)行狀態(tài)一目了然；
4、全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)+環(huán)保冷媒,板式冷熱交換器與二元式超低溫冷凍系統(tǒng)；
5、具有RS-232或RS-485通訊接口，可連接電腦遠(yuǎn)程操控，使用便捷；
6、可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇2槽或3槽之功能，并具有高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能；
7、可在預(yù)約開機(jī)時(shí)間運(yùn)轉(zhuǎn)中自動(dòng)提前預(yù)冷、預(yù)熱、待機(jī)功能；
8、可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)，自動(dòng)(手動(dòng))除霜；
9、采用日本*OYO彩色觸摸屏控制器人機(jī)界面友好，程序設(shè)定方便，異常及故障排除顯示功能齊全?！?/span>