慶聲KSON冷熱沖擊試驗機溫度循環(huán)試驗箱
- 公司名稱 上海堅融實業(yè)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/2/10 9:51:34
- 訪問次數(shù) 7543
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堅融實業(yè)——上海市先JIN企業(yè)!
堅融實業(yè)——專注工業(yè)測試行業(yè)十六年!
堅融實業(yè)——通過德國萊茵TUV認證供應商!
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堅融實業(yè)——致力于為祖國用戶提供儀器設備售前演示實測、測試方案應用、技術使用培訓及售后維修計量，全面服務的儀器設備綜合服務商!
專業(yè)儀器設備與測試方案供應商——上海堅融實業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友（上海）測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，專注工業(yè)測試行業(yè)十六年，志在破舊立新！填BU進口儀器設備大多數(shù)廠家僅在國內(nèi)設銷售點，但技術支持薄弱甚至沒有，而代理經(jīng)銷商也只做商務，不做售前技術支持/測試方案和售后使用培訓/維修校準的空白。我們的技術型銷售均為本科以上學歷，且均有10年以上測試行業(yè)經(jīng)驗，以我們先進獨TE的經(jīng)營理念，與客戶互惠互利合作雙贏，重在協(xié)助用戶采購與技術工程師的工作，提供具競爭力的供應鏈管理與售前售后技術支持。十六年精耕細作于儀器設備售前演示實測、測試方案應用、技術使用培訓及售后維修服務。
經(jīng)營品牌及產(chǎn)品：
一、測試技術方案【我們根據(jù)用戶實際應用，撰寫有上百篇技術測試應用文章】：
USB3.0/MIPI/eDP/eMMC5.1/SD4.1/DP AUX/SoundWire/I2C/SPI/UART/CAN/FlexRay/MVB/WTB協(xié)議測試、半導體I-V測試、表面電阻/體積電阻率、靜電壓/離子消散衰減、介電常數(shù)/電導率/阻抗分析、GaN/SiC/IGBT特性分析、IoT低功耗、材料耐壓絕緣電阻漏電流、ESD靜電放電/EMC電磁/雷擊浪涌、材料高低溫/冷熱沖擊試驗、大眾VW80000/ISO16750標準測試、材料切割鑲樣磨拋金相分析......
二、環(huán)境可靠性試驗/拉力試驗/幾何精密測量/機器人手臂：
愛斯佩克ESPEC/賓德BINDER/廣五所GWS/偉思富奇Weiss-Technik烘箱、
高低溫試驗箱、恒溫恒濕箱、冷熱沖擊箱、鹽霧箱。沖擊跌落機、振動臺、英斯特朗INSTRON拉力試驗機。海克斯康HEXAGON/蔡司ZEISS/法如FARO三坐標測量儀/智能機械人手臂。
三、靜電檢測消除：
DESCO/KLEINWACHTER防靜電電阻測試儀、靜電測試儀、離子風機、靜電吸塵器、手腕帶防靜電鞋ESD測試儀、電荷電量庫侖計、MET ONE百級潔凈室塵埃粒子計。
四、電子測量儀器：
是德KEYSIGHT/泰克Tektronix/KEITHLEY/ADCMT/日置HIOKI/普源RIGOL/致茂Chroma/羅德R&S/德國EA電源、電子負載、萬用表、數(shù)據(jù)采集、皮安表、源表、靜電計、高阻表、半導體圖示儀、信號源、示波器、頻譜儀、網(wǎng)絡分析儀、功率計、電池測試儀。ZEROPLUS邏輯分析儀、Wayne Kerr LCR電橋、阻抗分析儀、FOTRIC紅外熱像儀、菊水KIKUSUI/華儀EEC/高美GMC-I耐壓絕緣接地漏電流測試儀。
五、生物制藥化學實驗儀器/傳感器：
賽默飛Thermo元素分析儀、博勒飛BrookField粘度計、安捷倫Agilent色譜/質(zhì)譜/光譜儀、萬通Metrohm滴定儀、電化學工作站、梅特勒METTLER/威卡WIKA壓力/流量/PH/溶氧/電導率傳感器，天平。艾卡IKA/Sartorius發(fā)酵罐、水分儀。愛色麗X-rite/美能達Minolta色彩分析儀、光度/亮度/照度計。COSMOS潤滑油鐵粉濃度計。
六、金相設備耗材：
賀利氏Heraeus/司特爾Struers/標樂Buehler切割機、研磨拋光機、鑲嵌機、顯微鏡、硬度計。
企業(yè)在銷售過程中根據(jù)給用戶實際測試使用撰寫有《芯片集成電路I2C、SPI測試》、《存儲器SD4.1、eMMC5.1測試》、《電腦周邊USB3.0、UART測試》、《CAN、LIN、FlexRay、SENT汽車電子總線測試》、《MVB、WTB總線軌道交通測試方案》、《電源管理系統(tǒng)BMS測試》、《音視頻多媒體MIPI/HDMI/DP AUX/SoundWire測試》、《GB/T國標、ANSI/ASTM美標之材料表面電阻和體積電阻率測試方案》、《防靜電地板/臺面/鞋服/橡膠絕緣材料/薄膜/包裝材料ANSI/ESD規(guī)范防靜電測試》、《電子電器/防靜電產(chǎn)品的IEC 61340、EOS/ESD S.3.1和SAE J1645標準靜電消散測試》、《基于LCR電橋/阻抗分析儀/網(wǎng)絡分析儀之介電常數(shù)、電導率測試評估》、《6517B與B2985A高阻表測量電阻/體積電阻率》、《新材料先進半導體微電流/微電阻/低噪聲測試》、《循環(huán)伏安法CV電化學實驗系統(tǒng)工作站測量線性掃描伏安特性CV、電流-時間曲線I-t、電勢、電沉積、電阻率》、《基于源表和轉(zhuǎn)換開關的霍爾效應與范德堡測試》、《MOSFET/CMOS/IGBT半導體晶體管特性曲線分析》、《電波暗室EMC電磁兼容測試》、《基于頻譜分析儀的EMI輻射預測試》、《相噪/頻響/數(shù)字模擬高速信號采集/射頻微波測試》、《音視頻綜合測試分析》、《Wi-Fi/藍牙Bluetooth/LTE/GPS測試》、《大眾VW80000/通用GMW3172/ISO7637瞬態(tài)傳導抗擾/ISO16750電源故障模擬標準測試》、《鑲嵌機、磨拋機在電子零部件中的應用》、《Agilent34970A，KEITHLEY2700數(shù)據(jù)采集監(jiān)測多路溫度/電壓/電阻》、《精密電流源/納伏表納米超導材料，繼電器開關，汽車電子連接器微小電阻測試》、《靜電電量Static Charge電荷庫侖Coulomb測試方案》、《基于KEITHLEY6514靜電計，DMM7510圖形萬用表和高速示波器之nanogeneration納米發(fā)電機實驗》、《基于皮安表的元器件/電路板泄漏電流，二極管暗電流測試》、《基于KEITHLEY2460-EC電化學工作站/恒電位測試》、《石墨烯/碳納米/晶體管測試》、《半導體材料SiC，GaN等電流/電壓特性分析和功能測試》、《光電子/納米電子器件測試》、《LED照明測試》、《OLED，TFT LCD液晶顯示集成電路及材料測試》、《IoT物聯(lián)網(wǎng)設備低功耗測試》、《大功率編程電源/負載的太陽能光伏、新能源汽車、充電樁、燃料電池測試》、《機電/材料/生物醫(yī)學/汽車電子云熱像》、《ABS防抱死制動系統(tǒng)、SRS汽車安全氣囊、TPMS胎壓監(jiān)測測試系統(tǒng)》、《薄膜/膠片介電擊穿/電氣強度試驗》、《橡膠/電芯/陶瓷絕緣電阻試驗》、《符合IEC61215、IEC61730光伏標準耐壓測試方法》、《GB/T 1695硫化橡膠擊穿電壓強度和耐電壓測定方法》、《GB/T 24344工業(yè)機械電氣設備耐壓試驗規(guī)范》、《基于GB/T、IEC、EN、UL、VDE、JIS等各國安全規(guī)范要求》、《符合IEC、JIS、UL各類標準的醫(yī)療器械泄漏電流測試》、《燈具/開關插座/EV充電樁接地電阻測試》、《干濕球、不飽和、濕潤飽和模式高壓加速老化試驗》、《腐蝕性物質(zhì)高低溫環(huán)境可靠試驗》、《汽車電子零部件/內(nèi)飾件高低溫冷熱沖擊試驗》、《樹脂、涂料、油漆、膠帶易燃物質(zhì)防爆型高溫烘箱》等上百篇技術測試應用解決方案文章，為工業(yè)測試行業(yè)做出了我們應有的貢獻。
堅忍不拔 圓融通達 是我們秉承的理念，嚶其鳴矣 求其友聲，我們渴望跟更多志同道合的同仁共建至真至誠共贏合作，為祖國測試行業(yè)“添磚加瓦”！
代理授權證/技術培訓證：
用戶培訓：
總線測試協(xié)議解碼邏輯分析儀，靜電阻/靜電場測試儀，源表，干燥箱烘箱，高低溫恒溫恒濕試驗箱，LCR阻抗分析儀，示波器，頻譜儀，耐壓絕緣電阻測試儀
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 20萬-50萬 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電子 |
慶聲KSON冷熱沖擊試驗機溫度循環(huán)試驗箱
☆可設定任意沖擊溫變率5℃～30℃(40℃) [任意變化溫變率條件]
☆可執(zhí)行RAMP(設定溫變率)、三箱(過常溫) 兩箱(高低溫沖擊)沖擊試驗
■ 溫度循環(huán)試驗箱說明：為了仿真不同電子構(gòu)件，在實際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴格測試環(huán)境，縮短測試時間，降低測試費用，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)。
慶聲KSON冷熱沖擊試驗機溫度循環(huán)試驗箱規(guī)范試驗條件：
a.可設定任意沖擊溫變率5℃～30℃(40℃)[任意變化溫變率條件]
b.滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB 、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求
c.可設定依據(jù)待測品溫變率控制
d.試驗結(jié)束待測品回常溫避免結(jié)霜結(jié)露技術
e.采用鋁片驗證機臺負載能力(非塑料負載)
f.進行兩箱沖擊時測試區(qū)濕度符合規(guī)范要求
g.可執(zhí)行低溫0度沖擊并省電
創(chuàng)新&特色：
a.單一機臺可執(zhí)行RAMP(設定溫變率)、三箱(過常溫)、兩箱(高低溫沖擊)沖擊試驗 (一機三用)
b.可試驗待測品負載數(shù)量大
c.需除霜循環(huán)數(shù)高(500cycle除霜一次)，縮短試驗時間與電費
d.傳感器放置測試區(qū)而非風道口符合實驗有效性
控制系統(tǒng)：
a.內(nèi)建雙向USB2.0隨身碟儲存接口(可拷貝試驗曲線與加載試驗程序)
b.完整實時試驗曲線分析顯示，無時間限制
c.可與e化管理系統(tǒng)進行整合監(jiān)控
彩色觸控式控制系統(tǒng)
控制系統(tǒng)通過EMC(電磁兼容性)驗證
直立式全彩液晶TFT,簡/繁/英文顯示器
0. 01℃精確解析能力
1000 HOURS / STEP 每段可控制時間
150 program x 100 step 程序記憶容量
USB2.0儲存接口與曲線記錄
12 bit D/A 溫度轉(zhuǎn)換接口
全自動控制與安全保護協(xié)調(diào)系統(tǒng)
Index 運轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈
慶聲KSON冷熱沖擊試驗機溫度循環(huán)試驗箱規(guī)格參數(shù)
Models KSRA-3 KSRB-3 KSRC-3 KSRD-3 KSRA-4 KSRB-4 KSRC-4
Structure 預冷箱可選擇2箱/3箱
Damper Device 強制的空氣裝置氣門
Precool / Preheat Range -10.00℃ ~ -70.00'℃
+60.00'℃ ~ +200.00''℃ -10.00℃ ~ -70.00'℃
+60.00'℃ ~ +200.00''℃
Shocking Range -00.00℃ ~ -40.00'℃
+60.00'℃ ~ + 150.00'℃ -00.00℃ ~ -55.00'℃
+60.00'℃ ~ + 150.00'℃
Setting Range -70℃~200℃ /Time 0h 1 min ~ 9999 hour 59 min / cycle 1~99
Resolution 0.01'℃ / min
※以上規(guī)格僅供參考，如有變更不另行通知。
T S R適用相關規(guī)范對照表 (說明IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701之規(guī)范條件列表)
PCB板 125℃ -40℃ 5℃/min
錫須試驗 -40℃ 85℃ 5℃/min
無鉛合金(thermal Cycling test) 0℃ 100℃ 20min(5℃/min)
覆晶技術的溫度測試-規(guī)格1-范圍1 -120℃ 115℃ 5℃/min
覆晶技術的溫度測試-規(guī)格1-范圍2 -120℃ 85℃ 5℃/min
無鉛PCB(thermal Cycling test) -40℃ 125℃ 30min(5.5℃/min)
TFBGA對固定焊錫的疲勞模型 40℃ 125℃ 15min(5.6℃/min)
錫鉍合金焊接強度 - 40℃ 125℃ 8℃/min~20℃/min
JEDEC JESD22－A104
溫度循環(huán)測試(TCT) -40℃ 125℃ 20min(8℃/min) 100小時檢查一次
INTEL焊點可靠度測試 -40℃ 85℃ 15min(8.3℃/min)
CSP PUB與焊錫溫度循環(huán)測試 -20℃ 110℃ 15min(8.6℃/min)
MIL-STD-8831 65℃ 155℃ 10min(9℃/min)
CR200315 +100℃ -0℃ 10min(10℃/min)
IBM-FR4板溫度循環(huán)測試 0℃ 100℃ 10min(10℃/min)
溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命-1 0℃ 100℃ 10℃/min
JEDEC JESD22-A104-A-條件1 0℃ 100℃ 10℃/min
JEDEC JESD22-A104-A-條件1 0℃ 100℃ 10℃/min
GR-1221-CORE 70~85℃ -40℃ 10℃/min
GR-1221-CORE -40℃ 70℃ 10℃/min 放置11個sample
環(huán)氧樹脂電路板-極限試驗 -60℃ 100℃ 10℃/min
光纜 -材料特性試驗 -45℃ 80℃ 10℃/min
汽車音響-特性評估 -40℃ 80℃ 10℃/min
汽車音響-生産ESS -20℃ 80℃ 10℃/min
JEDEC JESD22-A104B(July 2000)-J形式 0℃ 100℃ 10℃~14℃/min 200cycle檢查一次，2000cycle進行拉力試驗
JEDEC JESD22-A104-A-條件2 -40℃ 125℃ 11℃/min (循環(huán)數(shù)為測試到待測品故障為止)
JEDEC JESD22-A104-A-條件2 -40℃ 125℃ 11℃/min
比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接-條件2 -40℃ 125℃ 11℃/min
裸晶測試(Bare die test) -40℃ 125℃ 11℃/min
芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) -40℃ 125℃ 11℃/min
無鉛CSP產(chǎn)品-溫度循環(huán)可靠度測試 -40℃ 125℃ 15min(11℃/min)
IEC 60749－25-G(JESD22－A104B) ＋125 －40℃ 15℃/min以下
IEC 60749－25-I(JESD22－A104B) ＋115 －40℃ 15℃/min以下
IEC 60749－25-J(JESD22－A104B) ＋100 0℃ 15℃/min以下
IEC 60749－25-K(JESD22－A104B) ＋125 0℃ 15℃/min以下
IEC 60749－25-L(JESD22－A104B) ㄚ110 －55℃ 15℃/min以下
IEC 60749－25-N(JESD22－A104B) ㄚ80 －30℃ 15℃/min以下
IEC 60749－25-O(JESD22－A104B) ㄚ125 －25℃ 15℃/min以下
家電用品 25℃ 100℃ 15℃/min
計算機系統(tǒng) 25℃ 100℃ 15℃/min
通訊系統(tǒng) 25℃ 100℃ 15℃/min
民用航空器 0℃ 100℃ 15℃/min
工業(yè)及交通工具-客艙區(qū)-1 0﹠ 100﹠ 15﹠/min
工業(yè)及交通工具-客艙區(qū)-2 -40﹠ 100﹠ 15﹠/min
引擎蓋下環(huán)境-1 0℃ 100℃ 15℃/min
引擎蓋下環(huán)境-2 -40℃ 100℃ 15℃/min
DELL液晶顯示器 0℃ 100℃ 15℃/min
JEDEC JESD22-A104B (July 2000)-G形式 -40℃ 125℃ 10~14min-16.5℃/min 200cycle檢查一次，2000cycle進行拉力試驗
IPC－9701-TC1 100℃ 0℃ 20℃/min
IPC－9701-TC2 100℃ -25℃ 20℃/min
IPC－9701-TC3 125℃ -40℃ 20℃/min
IPC－9701-TC4 125℃ -55℃ 20℃/min
IPC－9701-TC5 100℃ -55℃ 20℃/min
溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命-2 0℃ 100℃ 20℃/min
飛彈的電路板溫度循環(huán)試驗 -55℃ 100℃ 20℃/min 試驗結(jié)束進行送電測試
改進導通孔系統(tǒng)信號完整-測試設備設計 0℃ 100℃ 5min(20℃/min)
比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接-條件1 0℃ 100℃ 5min(20℃/min)
PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法 0℃ 100℃ 5min(20℃/min)
GS-12-120 0℃ 100℃ 5min(20℃/min)
半導體-特性評估試驗 -55℃ 125℃ 20℃/min
連接器-壽命試驗 30℃ 80℃ 20℃/min
樹脂成型品-品質(zhì)確認 -30℃ 80℃ 20℃/min
DELL無鉛試驗條件(thermal Cycling) 0℃ 100℃ 20℃/min
DELL液晶顯示器計算機 -40℃ 65℃ 20℃/min
覆晶技術的溫度測試-規(guī)格2-范圍2 -120℃ 85℃ 10min(20.5℃/min)
環(huán)氧樹脂電路板-加速試驗 -30℃ 80℃ 22℃/min
汽車電器 +80℃ -40℃ 24℃/min
光簽接頭 -40℃ 85℃ 24℃/min 10cycle檢查一次
測試Sn-Ag焊劑在板子的疲勞效應 -15℃ 105℃ 25℃/min 0、250、500、1000cycle電子顯微鏡 檢查一次
PCB的產(chǎn)品合格試驗 -40℃ 85℃ 5min(25℃/min)
PWB的嵌入電阻&電容的溫度循環(huán) -40℃ 125℃ 5.5min(30℃/min)
電子原件焊錫可靠度-2-1 0℃ 100℃ <30℃/min
電子原件焊錫可靠度-2-2 20℃ 100℃ <30℃/min
電子原件焊錫可靠度-2-3 -65℃ 100℃ <30℃/min
◎RAMP試驗溫變率列表
TSR(斜率可控制)
[5℃～30 ℃/min]
30℃/min 電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗
28℃/min LED汽車照明燈
25℃/min PCB的產(chǎn)品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應
24℃/min 光纖連接頭
20℃/min IPC－9701 、覆晶技術的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統(tǒng)&端子、改進導通孔系統(tǒng)信號 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命
17℃/min
MOTO
15℃/min IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、 汽車引擎蓋下環(huán)境)
11℃/min 無鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A
10℃/min 通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試
5℃/min 錫須溫度循環(huán)試驗
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