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Z200 EL測(cè)試儀
參考價(jià) | ¥ 10000 |
訂貨量 | ≥1臺(tái) |
- 公司名稱(chēng) 蘇州萊科斯新能源有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) Z200
- 產(chǎn)地 江蘇
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2020/5/25 17:09:57
- 訪問(wèn)次數(shù) 357
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EL檢測(cè)儀,光伏EL測(cè)試儀,無(wú)人機(jī)熱成像檢測(cè),便捷式EL測(cè)試儀,光伏無(wú)人機(jī)EL檢測(cè)儀,光伏電站EL測(cè)試儀,太陽(yáng)能板EL檢測(cè)儀
產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 1萬(wàn)-2萬(wàn) |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源 |
當(dāng)前,太陽(yáng)能技術(shù)迅猛發(fā)展,為了檢測(cè)太陽(yáng)能組件的內(nèi)部缺陷,所以EL測(cè)試儀是十分必要的,以往的不方便打印樣本的相關(guān)標(biāo)簽,不方便調(diào)整紅外相機(jī)的水平位置,不方便對(duì)太陽(yáng)能組件進(jìn)行夾持,不方便夾持不同寬度的太陽(yáng)能組件,為此,我們提出一種太陽(yáng)能組件EL測(cè)試儀。
參數(shù)規(guī)格
型號(hào)規(guī)格 | LX-Z200 |
測(cè)試系統(tǒng) | 電站測(cè)試模組/ 成像模組/ 暗室模組 |
成像時(shí)間 (S) | 1~10 |
檢測(cè)周期 (S) | 10~20 |
檢測(cè)對(duì)象 | 電站組件/廠家組件 |
可判斷缺陷類(lèi)型 | 隱裂/碎片/低效率片/燒結(jié)網(wǎng)紋/材料缺陷/黑心/斷柵 |
成像系統(tǒng) | 分辨率:2416萬(wàn)像素 6000 x 4000 |
自動(dòng)對(duì)焦/ 快速成像傳輸 | |
內(nèi)置無(wú)線操作傳輸模組 | |
外接遠(yuǎn)程無(wú)線WIFI模組100~150m范圍雙智能操控傳輸 | |
暗室系統(tǒng) | 可防紅外暗室?guī)づ?/td> |
面積(mm):2200*2200*1300 | |
上電電源 | 直流穩(wěn)壓式移動(dòng)電源 無(wú)線操控 可跟延長(zhǎng)線搭配使用 |
0~100V 0~10A 可調(diào) 28AH | |
上電模式 | 通用插口連接組件上電 |
工作環(huán)境 | -10~45 ℃ |
外接上電環(huán)境 | AC 220V 15A |
性能優(yōu)勢(shì) advantage
Wifi無(wú)線傳輸 **研發(fā)通過(guò)內(nèi)置無(wú)線技術(shù)實(shí)現(xiàn)ipad平板電腦等智能設(shè)備控制拍照及傳輸成像圖片,能夠兩臺(tái)ipad/智能設(shè)備同時(shí)連接相機(jī),一臺(tái)控制拍攝,一臺(tái)監(jiān)視,同步顯示實(shí)時(shí)成像畫(huà)面
自動(dòng)對(duì)焦功能核心優(yōu)勢(shì)相機(jī)系統(tǒng)影像研發(fā)自動(dòng)對(duì)焦專(zhuān)li技術(shù),相機(jī)系統(tǒng)影像內(nèi)部自動(dòng)
對(duì)焦無(wú)需外置不穩(wěn)定紅外燈,測(cè)試過(guò)程中無(wú)需人工對(duì)焦,解決EL無(wú)法自動(dòng)對(duì)焦難題
全天候測(cè)試**防紅外暗室?guī)づ翊钆錇V光紅外相機(jī)實(shí)現(xiàn)24小時(shí)全天候測(cè)試
組件方陣檢測(cè)可同時(shí)測(cè)試多塊組件平面方陣,使電站EL檢測(cè)更加輕松快捷
集成升級(jí)可升級(jí)更高配置相機(jī)電源模組實(shí)現(xiàn)多組件同時(shí)上電一次性檢測(cè)
移動(dòng)電源萊克斯自主研發(fā)移動(dòng)電源離線在線二合一使得無(wú)線操控測(cè)試更安全便捷
視野全景**研發(fā)全景加測(cè)距功能,校準(zhǔn)整塊組件在鏡頭拍攝范圍內(nèi),夜晚支架多組件測(cè)試視野全景校準(zhǔn)更快速 。
在整個(gè)組件從硅片開(kāi)始到電站組件安裝后各個(gè)環(huán)節(jié)都會(huì)存在隱裂問(wèn)題,如不能提前發(fā)現(xiàn),隱裂材料制造出來(lái)的組件將會(huì)造成非常大的損失,就是在這一個(gè)過(guò)程中進(jìn)行內(nèi)部缺陷的測(cè)試,包含虛焊,斷柵,隱裂,低效率片,邊緣漏電,過(guò)刻等問(wèn)題