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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>鍍層測厚儀> XRF-2000 X射線測厚儀

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XRF-2000 X射線測厚儀

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 深圳市超勝科技有限公司-C
  • 品牌 其他品牌
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時間 2020/5/13 17:48:15
  • 訪問次數(shù) 136
產(chǎn)品標簽

X射線測厚儀鍍層測厚儀

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


超勝科技是專業(yè)從事實驗室精密測試設(shè)備銷售、安裝維護及培訓(xùn)服務(wù)的公司,公司位于改革開放前沿的深圳。我們致力服務(wù)于PCB電路板廠商、五金首飾、連接器、LCD、科研機構(gòu)、高校、品質(zhì)檢測、半導(dǎo)體、微電子、光電子、光通訊等領(lǐng)域。

公司始終以堅持誠信經(jīng)營、按章納稅為原則,以自身強大的技術(shù)作為后盾, 優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和良好的客戶服務(wù)信譽, 在各行業(yè)客戶取得了*的信任與合作關(guān)系,同時建立并完善了我們的銷售網(wǎng)絡(luò)和售后服務(wù)體系。

公司代理各國進口品牌符合IPC標準的精密測試設(shè)備及輔助材料: 美國博曼X射線鍍層測厚儀 、美國Calmetrics薄膜校正標準片、英國牛津OXFORD薄膜校正標準片、牛津CMI900/920膜厚測試儀及相關(guān)配件耗材、牛津CMI500/CMI700孔面銅厚測量儀及相關(guān)耗材、milum PCB孔/面銅測厚儀、美國WALCHEM自動加藥控制器、美國SCS離子污染測試儀、美國ECI CVS分析儀、美國泰克阻抗測試儀、日本電子JOEL掃描電子顯微鏡、美國MicroRules高精度玻璃刻度菲林尺、德國SCAN-DIA和美國EXTEC的金相設(shè)備及耗材等。

我們以*的技術(shù)和經(jīng)營理念,將創(chuàng)新協(xié)作作為*發(fā)展的策略

 

 

 

 

 

金鎳鍍層測厚儀,孔面銅測厚儀,校正片,計量泵,RoHS檢測儀,水質(zhì)分析監(jiān)控儀,阻抗測試儀,離子分析測試儀

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 1萬-2萬
應(yīng)用領(lǐng)域 化工,能源

XRF-2000 X射線測厚儀的特征:

1.可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
2.可通過CCD攝像機來觀察及選擇微小面積以進行鍍層厚度的測量,避免直接接觸或破壞被測物。
3.備有250個以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標準樣品。

 

XRF-2000 X射線測厚儀參數(shù):

  XRF2000能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能*,而且價錢*,同比其他牌子相同配置的機器,XRF2000為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調(diào)整。超/大開放式的樣品臺,可測量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的優(yōu)先選擇??蓽y量各類金屬層、合金層厚度等。

膜厚測試符合標準:ASTMB568 ;   ISO3497;  DIN50987  。

校正標準片:符合NIST規(guī)范,附有美國標準之證明文件。

可測元素范圍:鈦(Ti)–鈾(U)原子序 22–92.

準直器:固定種類大?。嚎蛇x圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm

自動種類大?。嚎蛇x圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm

電腦系統(tǒng):DELL品牌電腦,17寸液晶顯示器,惠普彩色打印機

綜合性能:鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析統(tǒng)計功能



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