KM1-DIT-6H1 雙色紅外測溫儀

比色測溫儀： 采用雙色測溫方法，即通過目標(biāo) 物體輻射的兩個紅外波段的能量比值來確定被測物體的 溫度。因測量結(jié)果取決于兩個波段輻射功率之比，所 以，輻射能量的部分損失對測量結(jié)果沒有影響?？煽朔?傳輸介質(zhì)有灰塵、煙霧、水汽，視場局部遮擋和測量距 離變化造成的輻射能量衰減而引起的測量誤差，特別適 用于相對惡劣的測溫環(huán)境。
金屬熱加工過程中，金屬表面不可避免會快速氧化 形成氧化層，氧化層會隨溫度變化脫落或者皴裂（例如 軋鋼生產(chǎn)線），皴裂氧化皮和金屬本體形成間隙，使得 氧化層的溫度低于金屬本體溫度。比色測溫儀可以很好 的克服因此引起的測量誤差。使得生產(chǎn)工藝數(shù)據(jù)可靠且 離散性小，便于工藝分析。
比色測溫對于真空或保護(hù)氣體加熱系統(tǒng)也具有較強(qiáng) 的，可以克服玻璃窗口材料引起的測量誤差，讓測 量值更接近真值。
比色測溫儀具有目視瞄準(zhǔn)系統(tǒng)，非常方便用戶 安裝及實(shí)時查看測溫儀是否對準(zhǔn)目標(biāo)。對于密封環(huán)境的 測量系統(tǒng)，目視瞄準(zhǔn)還可以作為爐內(nèi)工況的觀察窗口。
比色測溫儀具有豐富的功能，實(shí)時高亮溫度測 量值顯示，用戶可選測量方式，測量模式，測溫速度， 輸出規(guī)格設(shè)置。*客戶各種現(xiàn)場使用需求。人機(jī) 交互簡單，方便。
單色溫度計在使用過程中，會遇到以下幾種原因引 起的測量誤差： 、材料氧化表面狀態(tài)發(fā)生改變，或者 氧化物和原始材料開裂而引起較大的測量誤差。 、材 料本身發(fā)射率較低而引起的測量誤差。 、測量環(huán)境惡 劣（粉塵，煙霧，水蒸氣等）而引起的測量誤差。 、 測量孔徑不能*測溫儀的視場需求而引起的測量 誤差。
量程范圍
DITH1 600-1400℃
DITH2 800-1800℃
DITH3 1000-3000℃ 探測器 Si0.4-1.1µm/Si 0.8-1.1µm
測量精度 ±0.75%(FS) 測量精度 0.2% ±
溫度分辨力1℃
響應(yīng)時間 5ms ≤
發(fā)射率調(diào)整 0.80 to 1.10 (0.01) tow-color 0.10 to 1.00(0.01) one-color
現(xiàn)場參數(shù)
280:1 2mm@560mmDITH1,DITH2,DITH3
防護(hù)等級 IP65
工作溫度 0 to 65℃ 存儲溫度 -20-70℃ 相對濕度
抗沖擊 GB/T2423.1,GB/t2423.2 抗擾標(biāo)準(zhǔn) JB/T9233.11-1999
重量 600g