MLCC多通道介電溫譜儀/陶瓷薄膜半導(dǎo)體塊狀

      MLCC多通道介電溫譜儀/陶瓷薄膜半導(dǎo)體塊狀

一、升溫迅速高溫介電溫譜儀組成部分

它由硬件設(shè)備和測(cè)量軟件組成，包括高溫測(cè)試平臺(tái)、高溫測(cè)試夾具、阻抗分析儀和高溫介電測(cè)量系統(tǒng)軟件四個(gè)組成部分。它為樣品提供一個(gè)高溫環(huán)境；高溫測(cè)試夾具提供待測(cè)試樣品的測(cè)試平臺(tái)；阻抗分析儀則負(fù)責(zé)測(cè)試各組參數(shù)數(shù)據(jù)。后，再通過(guò)測(cè)量軟件將這些硬件設(shè)備的功能整合在一起，形成一套由實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì)到溫度控制、參數(shù)測(cè)量、圖形數(shù)據(jù)顯示與數(shù)據(jù)分析于一體的測(cè)量系統(tǒng)。

      二、升溫迅速高溫介電溫譜儀特點(diǎn)

　　可以實(shí)現(xiàn)常溫、高溫、低頻條件下測(cè)量塊體樣品的介電；

　　可以測(cè)量阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D等物理量；

　　可以直接測(cè)量介電常數(shù)和損耗，阻抗譜Cole-Cole圖；

　　集成一體化設(shè)計(jì)，觸摸屏控制和顯示，具有易用性；

　　電動(dòng)升降平臺(tái)，彈簧電極系統(tǒng)，操作簡(jiǎn)單，使用方便；

　　系統(tǒng)自帶溫度功能，讓測(cè)量溫度盡可能與樣品實(shí)際溫度保持一致；

　　系統(tǒng)采用PID模糊算法，具有控溫、超溫保護(hù)、一鍵自整定、故障診斷功能；

高溫條件下模擬導(dǎo)線，可有效增加測(cè)試的頻率帶寬，減小電爐絲的交流干擾

三、技術(shù)指標(biāo)

溫度范圍：室溫-800℃，（反射爐加溫）配水冷機(jī)）；

控溫精度：±0.5℃；

測(cè)量精度：±0.25℃；

升溫斜率：1-800℃/min（*快可10秒達(dá)800度）；

降溫斜率：1-200℃/min（可自調(diào)整）；

頻率范圍：20Hz-1MHz；

測(cè)量精度：0.05%；

樣品規(guī)格：直徑：20mm以內(nèi)；厚度：5mm以內(nèi)；

電極材料：鉑金；

測(cè)量方式：2線-4線測(cè)量方式；

供電：220V±10%，50Hz；

工作環(huán)境：0℃-55℃；

存儲(chǔ)條件：-40℃-70℃；

尺寸：750mmX660mm×360mm；

重量：25kg

四、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

華測(cè)公司為針對(duì)新材料電檢測(cè)儀器全系列廠家，試驗(yàn)效率高。

可實(shí)現(xiàn)高溫下的勻速、階梯、降溫下的全溫度范圍的測(cè)試。

可實(shí)現(xiàn)小于±0.5℃溫度測(cè)量誤差（限反射爐），jing度控制在±0.25℃以內(nèi)。

五、使用范圍

可測(cè)量陶瓷、薄膜、半導(dǎo)體等塊狀材料高溫介電特性，可同時(shí)測(cè)量及輸出頻率譜、電壓譜、偏壓譜、溫度譜、介電溫譜的測(cè)量數(shù)據(jù)與圖形。