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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>無損檢測>探傷機/探傷儀> OmniPC軟件

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OmniPC軟件

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相控陣儀探傷儀OmniPC

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增宜檢測技術(shù)(上海)有限公司是一家專注于無損檢測設(shè)備,理化分析計量儀器,實驗室科研器材銷售及服務(wù)的一站式集成供應(yīng)商。公司代理許多上享譽*的先進產(chǎn)品。

我們提供的工業(yè)產(chǎn)品包括超聲波檢測儀、渦流儀、激光間隙測量儀、X射線機、平板探測器、磁粉探傷機、著色滲透劑、聲發(fā)射檢測儀器、泄漏儀、內(nèi)窺鏡、顯微鏡、硬度計、合金光譜儀、金相分析儀、紅外熱像儀及其它實驗室試驗檢測設(shè)備。

我們的產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于造船、汽車、鐵路、航空、石化、冶金、風(fēng)電、核工業(yè)、軍工、特檢和高??蒲械榷鄠€行業(yè)領(lǐng)域,并贏得了廣大用戶的良好口碑。

公司秉承“至信卓業(yè),客戶至上”的經(jīng)營宗旨,崇尚“專業(yè),高效,共贏”的服務(wù)理念,為廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品,優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。我們期待成為您長期且可信賴的合作伙伴。

主要代理如下公司產(chǎn)品:

奧林巴斯測厚儀/探傷儀/顯微鏡/內(nèi)窺鏡/光譜儀

 

Third Dimension英國三維激光間隙測量儀

 

ZETEC探傷儀

 

GE美國通用電氣測厚儀/探傷儀/顯微鏡/內(nèi)窺鏡/射線機

 

萬睿視平板探測器/管頭

 

Eddyfi & M2M探傷儀

 

美國磁通磁粉滲透

Eddyfi & M2M探傷儀

 

奧林巴斯超聲波相控陣OMNISCAN MX2,英國三維Third Dimension GapGun Pro激光間隙測量儀,美國萬睿視Varex射線數(shù)字平板探測器,奧林巴斯超聲波探傷儀,奧林巴斯渦流探傷儀,內(nèi)窺鏡,元素分析儀,美國磁粉滲透

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 化工

設(shè)計

用戶可以直接在計算機中為檢測應(yīng)用選擇被測工件的幾何形狀,并定義焊縫、探頭、楔塊和組,從而可快速完成準(zhǔn)備設(shè)置的工作。

導(dǎo)出和導(dǎo)入
在NDT SetupBuilder中完成了檢測配置的定義后,只需點擊一下,就可以將參數(shù)導(dǎo)出,然后再將參數(shù)導(dǎo)入到OmniScan MX2和OmniScan SX探傷儀中。
檢測
用戶將配置導(dǎo)入到OmniScan MX2和OmniScan SX探傷儀后,可以調(diào)整參數(shù),然后進行校準(zhǔn)。到現(xiàn)在為止,OmniScan MX2和OmniScan SX探傷儀就已經(jīng)*準(zhǔn)備好,可以進行檢測了。
分析和報告
用戶可以將檢測數(shù)據(jù)從OmniScan儀器傳輸?shù)接嬎銠C中的OmniPC軟件,進行分析并制作報告。這樣就解放了OmniScan儀器,使其可以對另一個工件進行檢測。
由VeriPhase提供的ADT(Automated Detection Technology,自動探測技術(shù))軟件可以與OmniScan探傷儀配合使用,以快速處理編碼相控陣焊縫數(shù)據(jù)。ADT軟件處理完數(shù)據(jù)后,會生成一個包含所有相關(guān)位置和定量讀數(shù)的缺陷報表,然后會將缺陷報表直接傳送到OmniPC軟件,以協(xié)助用戶進行數(shù)據(jù)分析。
將ADT軟件與OmniScan探傷儀結(jié)合在一起使用:
大大降低了分析時間
有助于提高檢出率和可靠性
提供符合規(guī)范的高質(zhì)量的數(shù)據(jù)
改進了檢測的工作流程
檢測迅速,結(jié)果可靠
相控陣探傷儀可以非常迅速地采集大量的編碼數(shù)據(jù)。如果不及時對這些數(shù)據(jù)進行分析,就有可能形成工作流程中的瓶頸。
ADT軟件處理檢測數(shù)據(jù)文件的方法是自動區(qū)分和定量需要進一步分析的缺陷指示。軟件會自動評估數(shù)據(jù)的質(zhì)量,包括核查耦合劑缺失及數(shù)據(jù)丟失的情況。
分析結(jié)果被直接傳送到OmniPC的缺陷報表中
適于初級和二級數(shù)據(jù)審查
自動定量指示缺陷的長度和高度
工作高效
ADT軟件可以在幾秒鐘之內(nèi)處理單組或多組文件,生成詳細的數(shù)據(jù)質(zhì)量報告和缺陷指示報表。當(dāng)在缺陷指示報表中選擇了一個缺陷指示時,軟件就會自動調(diào)整視圖和光標(biāo),以快速顯示缺陷在工件中的真實位置。在缺陷指示報表中更新或刪除缺陷指示的操作非常簡便。
快速對文件進行處理
只需簡單的培訓(xùn),即可輕松自如地操作
滑動光標(biāo)到某個缺陷指示,即可迅速了解缺陷的位置
制作詳細的報告
無論是在初步檢測,還是在檢測后的回顧過程中,這個軟件都可以通過清晰簡潔的格式為用戶提供頗具價值的信息。詳細的質(zhì)量報告有助于核查設(shè)置參數(shù),發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)質(zhì)量的問題,并可以將生成的缺陷指示分組列出。
可以為所有被分析的組生成缺陷指示報表
快速確認(rèn)所使用的設(shè)置是否正確
核查數(shù)據(jù)的質(zhì)量
為所有缺陷指示繪制S掃描和C掃描




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