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布魯克光學(xué)輪廓儀ContourX-100

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 冠乾科技(上海)有限公司
  • 品牌 Bruker/布魯克
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間 2024/6/19 12:03:01
  • 訪問次數(shù) 1175

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冠乾科技Grant Technology 有限公司創(chuàng)立于中國(guó)上海。 公司為用戶提供先進(jìn)可靠的設(shè)備及、

儀器技術(shù),為客戶把握工藝過程,得到優(yōu)質(zhì)的結(jié)果而服務(wù)。
Grant是“授予”的意思,希望公司能夠成為一個(gè)平臺(tái),以用戶能夠得到上更新更快的技術(shù)資訊,技術(shù)方案為企業(yè)目標(biāo)。

冠乾科技追求品質(zhì)產(chǎn)品、專業(yè)的應(yīng)用和完善的售后服務(wù),我們是您可以信賴的合作伙伴。

工藝設(shè)備:真空鍍膜機(jī);離子束刻蝕機(jī),ICP刻蝕機(jī),等

產(chǎn)品線豐富,元素分析:原子吸收,氣相色譜,液相色譜,氣質(zhì)聯(lián)用,紫外分光光度計(jì)等; 熱分析:材料表面分析:原子力顯微鏡,光學(xué)輪廓儀,摩擦磨損等;  通用分析:掃描電鏡,

實(shí)驗(yàn)室儀器
原子吸收光譜儀
近紅外光譜儀
紫外分光光度計(jì)
電化學(xué)工作站
紅外光譜儀
鍍層測(cè)厚儀
數(shù)字顯微鏡
影像測(cè)量?jī)x
Wafer 粗糙度檢測(cè)
3D 輪廓儀
超景深顯微鏡
TTV 測(cè)試
掃描探針顯微鏡
臺(tái)式掃描電鏡

其他儀器:
四探針測(cè)試
離子減薄機(jī)

 

原子力顯微鏡,摩擦磨損試驗(yàn)機(jī),超景深顯微鏡,鍍膜機(jī)

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 產(chǎn)品種類 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀
價(jià)格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣


布魯克光學(xué)輪廓儀ContourX-100

ContourX- 100光學(xué)輪廓儀為準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式表面計(jì)量樹立新的形象。

該小尺寸系統(tǒng)采用流線型設(shè)計(jì),結(jié)合了數(shù)十年專有的布魯克白光干涉儀(WLI)創(chuàng)新,可提供2D / 3D高分

辨率測(cè)量功能。滿足計(jì)量要求的臺(tái)式系統(tǒng)具有*進(jìn)的友好用戶界面,可直觀訪問多種預(yù)編程濾鏡和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜和摩擦學(xué)應(yīng)用分析。

新一代增強(qiáng)功能包括新的五百萬像素?cái)z像頭,新的載物臺(tái)和新的測(cè)量模式,提供了更大的靈活性。


布魯克光學(xué)輪廓儀ContourX-100

快速、可重復(fù)的三維計(jì)量

■與 放大倍率無關(guān)的Z軸分辨率

■大尺寸的標(biāo)準(zhǔn) 視場(chǎng)

■高穩(wěn)定性和重復(fù)性的集成防震設(shè)計(jì)


測(cè)量和分析功能

■易于使用的界面, 可快速準(zhǔn)確地獲得結(jié)果

■廣泛的濾鏡和分析工具選項(xiàng),用于粗糙度和關(guān)鍵尺寸測(cè)量分析,可用于表面粗糙度,RDLxian進(jìn)封裝工藝厚度等測(cè)試。

■滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標(biāo)準(zhǔn)在內(nèi)的定制化分析報(bào)告


計(jì)量功能

ContourX-100輪廓儀是布魯克在非接觸表面計(jì)量、表征和成像領(lǐng)域超過四十年的專有光學(xué)創(chuàng)新和作為的結(jié)晶。該系統(tǒng)結(jié)合三維白光干涉和二維成像技術(shù)在單次測(cè)量中實(shí)現(xiàn)多種分析。

ContourX-100對(duì)于反射率從0.05%到百分一百的各種表面都非常易于測(cè)量。


分析與回報(bào)

通過上千項(xiàng)自定義分析功能和簡(jiǎn)易但功能強(qiáng)大的VisionXpressM和Vision64@用戶界面,ontourX-100為提高實(shí)驗(yàn)室和工廠車間的生產(chǎn)率進(jìn)行了優(yōu)化。這種*的硬件和軟件組合提供了對(duì)高重復(fù)性和高通量計(jì)量學(xué)測(cè)量的便捷訪問,*超過了同類計(jì)量技術(shù)。

布魯克光學(xué)輪廓儀ContourX-100

布魯克光學(xué)輪廓儀ContourX-100






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