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OmniScan MX ECA/ECT粘接檢測

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
產(chǎn)品標(biāo)簽

粘接檢測粘接奧林巴斯

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增宜檢測技術(shù)(上海)有限公司是一家專注于無損檢測設(shè)備,理化分析計量儀器,實(shí)驗(yàn)室科研器材銷售及服務(wù)的一站式集成供應(yīng)商。公司代理許多上享譽(yù)*的先進(jìn)產(chǎn)品。

我們提供的工業(yè)產(chǎn)品包括超聲波檢測儀、渦流儀、激光間隙測量儀、X射線機(jī)、平板探測器、磁粉探傷機(jī)、著色滲透劑、聲發(fā)射檢測儀器、泄漏儀、內(nèi)窺鏡、顯微鏡、硬度計、合金光譜儀、金相分析儀、紅外熱像儀及其它實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)檢測設(shè)備。

我們的產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于造船、汽車、鐵路、航空、石化、冶金、風(fēng)電、核工業(yè)、軍工、特檢和高校科研等多個行業(yè)領(lǐng)域,并贏得了廣大用戶的良好口碑。

公司秉承“至信卓業(yè),客戶至上”的經(jīng)營宗旨,崇尚“專業(yè),高效,共贏”的服務(wù)理念,為廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品,優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。我們期待成為您長期且可信賴的合作伙伴。

主要代理如下公司產(chǎn)品:

奧林巴斯測厚儀/探傷儀/顯微鏡/內(nèi)窺鏡/光譜儀

 

Third Dimension英國三維激光間隙測量儀

 

ZETEC探傷儀

 

GE美國通用電氣測厚儀/探傷儀/顯微鏡/內(nèi)窺鏡/射線機(jī)

 

萬睿視平板探測器/管頭

 

Eddyfi & M2M探傷儀

 

美國磁通磁粉滲透

Eddyfi & M2M探傷儀

 

奧林巴斯超聲波相控陣OMNISCAN MX2,英國三維Third Dimension GapGun Pro激光間隙測量儀,美國萬睿視Varex射線數(shù)字平板探測器,奧林巴斯超聲波探傷儀,奧林巴斯渦流探傷儀,內(nèi)窺鏡,元素分析儀,美國磁粉滲透

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 化工

粘接檢測,重新打造

在同一次掃查中可以使用8種頻率

OmniScan MX ECA/ECT粘接檢測的改進(jìn)特性

  • C掃描成像。

  • 可同時最多驅(qū)動8種不同的頻率。

  • 計算缺陷大小的性能。

  • 提高了檢出率(POD)。

  • 相位/波幅的顯示模式

OmniScan MX ECA/ECT粘接檢測重要注意事項(xiàng)

  • 探測方式與BondMaster 1000e+儀器相同,因?yàn)閮煞N儀器使用相同的探頭。

  • 設(shè)計支持一發(fā)一收探頭。

  • 需要雙軸編碼掃查器生成C掃描。

OmniScan_Composite_WING_01.psd高級復(fù)合材料檢測

奧林巴斯非常自豪地推出新型粘接檢測OmniScan解決方案:這無疑是復(fù)合材料檢測行業(yè)中的一大進(jìn)步。如今,使用便攜式儀器獲得易于判讀的C掃描圖像已經(jīng)成為現(xiàn)實(shí)。這種OmniScan解決方案不僅非常適用于蜂窩結(jié)構(gòu)復(fù)合材料的脫粘檢測,而且還可以精確地探測到分層缺陷。這種解決方案主要為航空航天業(yè)的在役檢測而設(shè)計,但是也同樣適用于包括汽車和船舶工業(yè)在內(nèi)的制造業(yè)中的檢測,如:針對復(fù)合材料船體的檢測。

已經(jīng)擁有了OmniScan ECA或ECT模塊的用戶只需訂購標(biāo)準(zhǔn)的BondMaster探頭(P14和SPO-5629)及BondMaster線纜,就具備了解決方案所需的全套設(shè)備。

我們特別為復(fù)合材料檢測開發(fā)定制了MXB軟件;其新添的功能,如:向?qū)Ш鸵?guī)范化,有助于保持操作的簡單性。

A%c3%a9ro_BondTesting_02.psd

編碼系統(tǒng):可以使用任何雙軸編碼掃查器檢測工件。奧林巴斯提供兩個選項(xiàng):一個是適用于掃查平面或稍有彎曲表面的GLIDER掃查器;另一個是專門為掃查曲面工件(如:飛機(jī)的機(jī)身)而設(shè)計的WING掃查器,這款掃查器因具有Venturi真空吸盤系統(tǒng),甚至可以在倒置狀態(tài)下進(jìn)行操作。為了增強(qiáng)其通用性,裝有步進(jìn)點(diǎn)擊器的手持式單軸編碼掃查器也可以與這個系統(tǒng)兼容。

創(chuàng)新型C掃描視圖

奧林巴斯再次創(chuàng)新,推出了全新的屏幕數(shù)據(jù)顯示方式。針對每個C掃描,操作人員都有兩個查看選項(xiàng)可以選擇:波幅C掃描基于信號波幅顯示顏色的變化,而不會考慮相位情況,這種C掃描可以清晰、有效地探測到脫粘缺陷;相位C掃描,使用0°到360°的彩色調(diào)色板顯示相位角的變化,有助于輕松辨別不同類型的缺陷指示,如:油灰填塞(修補(bǔ))區(qū)域或分層缺陷。

相位C掃描,光標(biāo)處于灌封修補(bǔ)區(qū)域上

OS_BondTesting_55.psd

OS_BondTesting_53.psd

低頻掃描;波幅C掃描,光標(biāo)處于脫膠缺陷上

OS_BondTesting_56.psd

高頻掃描;相位C掃描,不同的彩色調(diào)色板

OS_BondTesting_52.psd

高頻掃描;相位C掃描,光標(biāo)處于分層缺陷上

OS_BondTesting_65.psd

兩個C掃描視圖

OS_BondTesting_69.psd

全屏C掃描視圖

OS_BondTesting_57.psd

缺陷大小評估功能

需要使用的設(shè)備

這個解決方案有兩種不同的配置:手動配置和半自動配置,兩種配置都需要以下標(biāo)準(zhǔn)部件。

標(biāo)準(zhǔn)部件

OmniScan_2003_08.psd

OmniScan MX和ECA/ECT模塊

OS_BondTesting_53.psd

MXB軟件

BondTester_Probe_03.psd


用于連接OmniScan儀器的BondMaster探頭適配器

手動配置

Scanner_BondTesting_02.psd

HSB-01手持式掃查器

半自動配置

Scanner_Glider_04.psd

雙軸掃查器

BondTester_Probe_01.psd

帶ACIX1520探頭架的SPO-5629-PHV探頭

BondTester_Probe_02.psd

帶ACIX1519探頭托架的S-PC-P14探頭




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