水冷式高低溫沖擊試驗箱
- 公司名稱 廣東科寶試驗設備有限公司
- 品牌 KEBAO/科寶中寶
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/1/14 12:08:45
- 訪問次數(shù) 1776
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 20萬-50萬 |
|---|---|---|---|
| 應用領(lǐng)域 | 電子 |
水冷式冷熱沖擊試驗箱,水冷式高低溫沖擊試驗箱技術(shù)參數(shù)：
| 溫度沖擊范圍 | 高溫60℃～+150℃ 低溫-55℃～-10℃ |
| 預熱溫度范圍 | ＋60℃ ～ ＋180℃ |
| 高溫槽升溫時間 | RT（室溫）～ ＋180℃≤35min（室溫在＋10～＋30℃時）. |
| 預冷溫度范圍 | －10℃～－65℃ |
| 低溫槽降溫時間 | RT（室溫）～ -65℃≤50min（室溫在＋10-- ＋30℃時） |
| 溫度波動度 | ±1.0℃ |
| 溫度均勻度 | ±2.0℃ |
| 沖擊歸復時間 | －55-- ＋150℃≤5min. |
| 內(nèi)部尺寸 | W500×H400×D400 mm |
| 內(nèi)箱材質(zhì) | 霧面不銹鋼板（SUS#304） |
| 外箱材質(zhì) | 沙紋不銹鋼板（SUS#304） |
| 保溫材質(zhì) | a.高溫槽：硅酸鋁保溫棉. b.低溫槽：高密度PU發(fā)泡. |
| 箱門 | 上、下箱單片門,左開. a.嵌入式平面把手. b.后鈕:SUS#304. c.硅膠發(fā)泡膠條. |
| 試料置放架 | a.承重不大于5KG. b.不銹鋼SUS#304內(nèi)箱. |
| 加熱系統(tǒng) | 鰭片式散熱管形不銹鋼電熱器. 1.高溫槽 6 KW. 2.低溫槽 3.5 KW. |
| 運風循環(huán)系統(tǒng) | 1.馬達1HP×2臺. 2.不銹鋼加長軸心. 3.多翼式扇葉（SIROCCO FAN）. 4.特殊設計之風扇強制送風循環(huán)系統(tǒng). |
水冷式高低溫沖擊試驗箱制冷方式：
采用多段自動負載容量調(diào)整技術(shù)，更高效，更節(jié)能
| 壓 縮 機 | 法國“泰康”牌全封閉式壓縮機 |
| 冷 凝 器 | 水冷式冷凝器（配水塔） |
| 蒸 發(fā) 器 | 鰭片式多段自動負載容量調(diào)整 |
| 膨 脹 閥 | 丹麥丹佛斯組件 |
| 冷 媒 | 最新環(huán)保冷媒R404A |
|
制 冷 輔 助 件 | 干燥劑（丹麥）, 油分離器（美國）, 冷媒視窗（丹麥），電磁閥（日本），過濾器（日本），壓力控制器（韓國），截止閥（意大利）等制冷配件均采用進口件 |
水冷式冷熱沖擊試驗箱通常按照以下步驟進行工作：
設定測試參數(shù)：根據(jù)測試需求，設定測試的溫度變化曲線、持續(xù)時間和測試次數(shù)等參數(shù)。
放置樣品：將待測試的樣品放置在樣品槽中，確保樣品與試驗箱內(nèi)部空氣的接觸良好。
溫度預調(diào)和平衡：根據(jù)測試要求，將試驗箱預調(diào)至初始溫度，使試驗箱內(nèi)部的溫度達到平衡狀態(tài)。
冷卻階段：啟動制冷機組，開始進行冷卻階段。制冷機組通過制冷劑的循環(huán)流動，吸收試驗箱內(nèi)部的熱量，并將其排出，以降低試驗箱內(nèi)部的溫度。
加熱階段：當試驗箱內(nèi)部的溫度達到設定的低溫值后，停止制冷機組的工作，啟動加熱系統(tǒng)，開始進行加熱階段。加熱系統(tǒng)通過通電產(chǎn)生熱量，將其傳遞給試驗箱內(nèi)部的空氣或物體，以升高溫度。
冷熱沖擊循環(huán)：在冷卻和加熱階段之間，根據(jù)設定的溫度變化曲線，循環(huán)進行冷熱沖擊，以模擬真實環(huán)境下的溫度變化情況。
測試結(jié)束：當測試時間或次數(shù)達到設定值時，停止加熱和制冷系統(tǒng)的工作，試驗結(jié)束。
水冷式冷熱沖擊試驗箱廣泛應用于材料科學、電子器件、汽車零部件、航空航天、光電子等領(lǐng)域。它可以對材料、元器件和產(chǎn)品在溫度條件下的性能進行測試和評估，以驗證其耐熱性、耐寒性和熱沖擊性能。
材料科學：用于測試材料在高溫或低溫環(huán)境下的物理性能、熱膨脹系數(shù)、耐熱性等。
電子器件：用于測試電子元器件在溫度條件下的可靠性和穩(wěn)定性，如芯片、電路板、連接器等。
汽車零部件：用于測試汽車零部件在溫度條件下的耐熱性、耐寒性和熱沖擊性能，如發(fā)動機部件、電池、線束等。
航空航天：用于測試航空航天器件和材料在溫度環(huán)境下的性能，如航空航天電子設備、航天材料等。
光電子：用于測試光電子元器件和光纖在高溫或低溫環(huán)境下的性能，如激光器、光纖傳輸系統(tǒng)等。
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