Exicor-System 美國Hinds Instruments
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司
- 品牌 Hinds Instruments
- 型號 Exicor-System
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/1/10 14:22:00
- 訪問次數(shù) 1968
產(chǎn)品標簽
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| 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子,交通 |
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概述：
美國Hinds Instruments的Exicor®雙折射測量技術于1999年推出，型號為150AT，為客戶提供技術，具生產(chǎn)價值的測量雙折射的能力。
Exicor系統(tǒng)的高靈敏度是美國Hinds Instruments的PEMLabs™技術的產(chǎn)品，該技術推出了超低雙折射光彈性調(diào)制器(PEM)。PEM的調(diào)制純度增強了Exicor的靈敏度，這是調(diào)制器的諧振特性的結(jié)果。 PEM的調(diào)制頻率為50 kHz，提供快速測量功能。
雙檢測器光學系統(tǒng)的設計與PEM科學相結(jié)合，提供了一個重要特性：光學系統(tǒng)中沒有移動部件。 移動部件的缺失產(chǎn)生高機械可靠性以及測量的可重復性，并允許同時測量幅度和角度。
Exicor測量通過正在研究的光學樣品沿著光路積分的延遲。 它旨在測量并顯示延遲軸的大小和方向。
此設計減了光學系統(tǒng)中的移動部件，并避免了在測量角度之間切換的重復性。 氦氖激光束被偏振，然后被PEM調(diào)制。 調(diào)制后的光束通過樣品傳輸并分配一個分光鏡。 每束光束通過分析儀、光學濾光片和光電探測器的組合。 電子信號通過一個鎖定放大器處理，提供非常低的信號檢測。
由Hinds儀器公司開發(fā)的軟件算法將來自電子模塊的信號電平轉(zhuǎn)換為可以確定線性雙折射的參數(shù)。
計算機從兩個輸入中選擇，允許從兩個信號通道進行連續(xù)測量。 分析數(shù)據(jù)，然后顯示延遲大小和軸角度并存儲在文件中。 當在自動映射模式下操作時，x-y平移階段將把樣本移動到下一個預定的測量位置。 結(jié)果以用戶確認的格式即時顯示。
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