AP-KS 可程式快速溫變檢測箱

可程式快速溫變檢測箱適用于各種通訊產(chǎn)品、電子產(chǎn)品、光電產(chǎn)品、安防產(chǎn)品、電子元?dú)饧裙I(yè)產(chǎn)品提供可靠性環(huán)境溫變?cè)囼?yàn)、產(chǎn)品應(yīng)力篩選等試驗(yàn)，同時(shí)通過此試驗(yàn)箱試驗(yàn)可提高產(chǎn)品的可靠性能，針對(duì)試驗(yàn)結(jié)果研發(fā)新品或進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量的控制。

可程式快速溫變檢測箱技術(shù)參數(shù)：

AP-KS-80  40×50×40      AP-KS-150   50×60×50        

AP-KS-225  60×75×50           AP-KS-408   60×85×80     

AP-KS-800  100×100×80    AP-KS-1000     100×100×100

溫度范圍：低溫：A：0℃~150℃；B：-20℃~150℃；C：-40℃~150℃；D：-70℃~150℃（升降溫速率每分鐘多少度可定制）

快溫變速率：5℃/分， 10℃/分， 15℃/分， 20℃/分， 25℃/分（線性或非線性變化）

濕度范圍：20%～98%R.H （10%～98%R.H；5%～98%R.H為特殊選用條件）

溫度解析精度/分布精度：0.01℃/±2.0℃

溫/濕均勻度:±2℃/ ±3%RH.

傳感器:鉑金電阻（PT100）

材質(zhì)  外箱：高級(jí)鋼板烤漆或SUS 304#紋路處理之不銹鋼.   內(nèi)箱：SUS 304# 8K鏡面不銹鋼板

符合標(biāo)準(zhǔn)：

GJB/150.3A-2009  *用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)

GJB/150.4A-2009  *用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)

GB/T 5170.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則

GB/T 2423.3-2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T 2423.4-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）

GJB/150.9A-2009  *用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分：濕熱試驗(yàn)

GB/T 2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

GB/T 2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化

GB/T 10586 -2006  濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB/T 10592 -2008  高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件