島津/KRATOS X射線光電子能譜儀 AMICUS型

●最大300W的大功率上照射X射線源，無陰影的XPS分析
●錐形塊體式陽極靶，抗污染能力強
●最佳能量分辨率優(yōu)于 0.8eV（Mo 3d_5/2）
●常規(guī)分析能量分辨和靈敏度高達1.15eV@700kcps（Ag 3d_5/2）
●結(jié)合了數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理的Vision軟件，可運行于Windows XP/Vista/7等多種平臺下，實現(xiàn)各真空室真空度實時顯示，操控真空閥門開關(guān)，實驗條件設(shè)定和全自動無人值守分析等強大功能

XPS：固體樣品的表面組成分析，化學(xué)狀態(tài)分析，取樣訊息深度為～10nm以內(nèi). 功能包括:
1. 表面定性與定量分析. 可得到小於10um 空間分辨率的X射線光電子能譜的全譜資訊。
2. 維持10um以下的空間分辨率元素成分包括化學(xué)態(tài)的深度分析（角分辨方式,,氬離子或團簇離子刻蝕方式）
3. 線掃描或面掃描以得到線或面上的元素或化學(xué)態(tài)分布。
4. 成像功能。
5. 可進行樣品的原位處理 AES：1.可進行樣品表面的微區(qū)選點分析（包括點分析，線分析和面分析） 2.可進行深度分析適合： 納米薄膜材料，微電子材料，催化劑，摩擦化學(xué)，高分子材料的表面和界面研究