Verios 5 XHR SEM超高分辨掃描電鏡
- 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/8/28 13:21:29
- 訪問次數(shù) 928
聯(lián)系方式：張怡玲18621035632 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工 |
Verios 5 XHR SEM超高分辨掃描電鏡
利用亞納米分辨率和高材料對比度進行納米材料表征和分析
Verios 5 XHR SEM掃描電鏡的主要特點
SmartAlign 技術(shù)
使用 SmartAlign 技術(shù)時，用戶無需對電子束鏡筒進行任何對中，這不僅能最大限度地減少維護，還能提高電鏡生產(chǎn)率。
創(chuàng)新的電子光學(xué)系統(tǒng)
包括 Thermo Scientific 獲得的 UC+（單色器）電子槍、ConstantPower 透鏡和靜電掃描，可實現(xiàn)準確穩(wěn)定的成像。
亞納米級分辨率
Elstar Schottky 電子源單色器（UC+）FESEM 技術(shù)和性能，實現(xiàn)從 1 至 30 keV 的亞納米級分辨率。
一致的測量結(jié)果
Verios 掃描電鏡非常適合實驗室計量應(yīng)用，能夠在高放大倍數(shù)下校準經(jīng) NIST 認證的標準品。
低劑量操作和最佳對比度選擇
結(jié)合了先進的高靈敏度、鏡筒內(nèi) & 透鏡下探測器和信號過濾功能 可實現(xiàn)低劑量操作和最佳襯度選擇。
輕松訪問射束著陸能量
低至 20 eV 也可實現(xiàn)用于真正的表面表征的分辨率。
無人照看的 SEM 運行
借助 AutoScript 4 軟件，可選配基于 Python 的應(yīng)用程序編程界面 (API)。
Verios 5 XHR SEM超高分辨掃描電鏡規(guī)格
電子束分辨率 |
| |
標準檢測器 | ETD、TLD、MD、ICD、射束電流測量、Nav-Cam+、IR 攝像機 | |
可選檢測器 | 可選檢測器 | EDS、EBSD、RGB 陰極發(fā)光、拉曼、WDS 等 | |
載物臺偏倚（光束減速、可選） | 標準配置包括高達 -4000 V | |
樣品清潔 | 標配配置包括集成式等離子清洗裝置 | |
樣品操縱 | Verios 5 UC
| Verios 5 HP
|
腔室 | 379 mm 內(nèi)徑、21 個端口 | |
軟件選項 |
| |
大腔室
可從兩種高精確穩(wěn)定的壓電陶瓷驅(qū)動樣品臺中進行選擇。
采購中心
化工儀器網(wǎng)