紅外光譜橢偏儀SENDIRA

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公司名稱 北京瑞科中儀科技有限公司
品牌 其他品牌
型號
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
更新時間 2024/7/10 9:27:27
訪問次數(shù) 899

產(chǎn)品標(biāo)簽

光譜橢偏儀光譜橢偏儀價(jià)格測量儀

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北京瑞科中儀科技有限公司專注半導(dǎo)體材料研究分析設(shè)備的研發(fā)和應(yīng)用。專業(yè)的團(tuán)隊(duì)，專精的服務(wù)，提供理想的解決方案。

我們長期專注于半導(dǎo)體材料研究與分析設(shè)備的經(jīng)銷和代理，為高校、企業(yè)科研工作者提供專業(yè)的分析解決方案。以專業(yè)技能為導(dǎo)向，用科技來解決用戶在科研中遇到的難題。專業(yè)的技術(shù)工程師和科研工作者進(jìn)行現(xiàn)場演示和技術(shù)交流，打消顧慮，彼此協(xié)作，為我國的科研領(lǐng)域譜寫新篇章。

北京瑞科中儀科技有限公司長期代理銷售供應(yīng)多種分子材料的研究分析設(shè)備，其中包括但不限于掃描電子顯微鏡、感應(yīng)耦合等離子體化學(xué)氣相沉積系統(tǒng)、離子束刻蝕機(jī)、等離子清洗機(jī)、物理氣相沉積系統(tǒng)以及各品牌的光學(xué)顯微鏡以及實(shí)驗(yàn)室設(shè)備儀器。

客戶至上的服務(wù)理念，以人為本的企業(yè)文化，我們始終為用戶提供專業(yè)的服務(wù)！

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半導(dǎo)體材料分析,材料刻蝕

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產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,化工,電子

橢偏振動光譜

紅外光譜橢偏儀SENDIRA利用紅外光譜中分子振動模的吸收帶，可以分析薄膜的組成。此外，載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測量。

傅立葉紅外光譜儀FTIR適用

集成賽默飛世爾Thermo Fisher制造的型號FTIR iS50紅外光譜儀。它也適用于一般的振動光譜。

紅外光譜橢偏儀SENDIRA用于測量薄膜厚度，折射率，消光系數(shù)以及體材料，單層和多層堆疊膜的相關(guān)特性。特別是覆蓋層下面的層在可見范圍內(nèi)是不透明的，現(xiàn)在也可以進(jìn)行測量。同時可以分析材料的組成和大分子基團(tuán)和分子鏈的走向。

SENTECH光譜橢偏儀SENDIRA是專門為紅外應(yīng)用(FTIR)設(shè)計(jì)的。緊湊型測量臺包括橢圓儀光學(xué)部件，計(jì)算機(jī)控制角度計(jì)，水平樣品臺，自動準(zhǔn)直透鏡，商用FTIR和DTGS或MCT探測器。FTIR在400?cm-1 ～6,000?cm-1 (1.7?µm?–?25?µm)光譜范圍內(nèi)提供了的精度和分辨率。

光譜橢偏儀SENDIRA主要用于薄層的振動光譜分析。應(yīng)用范圍從介質(zhì)膜、TCO、半導(dǎo)體膜到有機(jī)膜層。SENDIRA是由SpectraRay/4 軟件操作，另外還提供了FTIR軟件。