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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學儀器及設備>光學測量儀>其它光學測量儀>Model 659 光刻曝光分析儀

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Model 659 光刻曝光分析儀

具體成交價以合同協(xié)議為準
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光刻曝光曝光分析儀

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FIRSTNANO成立于2012年,一家由三位材料學博士共同創(chuàng)辦的德國公司?;?/span> Science is international”的想法,“全球協(xié)同實驗室”成為三位博士追逐的夢想。

公司愿景是從科學家到科學家,科學開創(chuàng)美好未來。

FIRSTNANO深耕于半導體技術(shù)、材料科學、生命科學等科研領域,始終秉承“前沿、專業(yè)、科學”的宗旨,將前沿技術(shù)引進到協(xié)同實驗室。我們的產(chǎn)品覆蓋了微納加工制程;材料科學的檢測、分析;生命科學成像,腦科學與行為認知等相關(guān)領域。作為全球科技前沿的儀器供應商,FIRSTNANO具有全球技術(shù)視野、優(yōu)質(zhì)供應體系、以及嚴格的質(zhì)量管控系統(tǒng),能為客戶提供前沿的技術(shù)解決方案。

公司服務的客戶領域廣泛,其中包括消費電子、航空、航天、醫(yī)藥技術(shù)、半導體行業(yè)、光電子行業(yè)、高校和研究機構(gòu)。

在成長的過程中,我們腳踏實地、奮勇向前。自2015年香港(中華區(qū))公司成立以來,我們一相繼在香港、深圳、上海和武漢設立了分支機構(gòu)。

我們真誠邀請業(yè)內(nèi)英才加入FIRSTNANO TEAM,一起為夢想揚帆起航!





半導體儀器和電子產(chǎn)品耗材耗材

產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 5萬-10萬
應用領域 電子

45年來,OAI始終是紫外能量測試儀器領域的*應用商,其儀器用于半導體、微機電系統(tǒng)、晶圓封裝和晶圓植球行業(yè)中光刻工藝的可靠,精確校準控制。

Model 659是款手持式紫外功率計,配有觸摸屏和 USB 接口。通過使用特殊探頭(365nm、400nm、420nm 和 436nm),可以測量主要用于步進應用的寬范圍波長。


             ●  多達400個曝光參數(shù)

             ●  以太網(wǎng)和USB接口,用于下載記錄的測量值

             ●  強度范圍達7500mW/cm2

             ●  強度分辨率:0.01mW/cm2

             ●  探頭波長:365nm、400nm、420nm、436nm



Model 659 型曝光分析儀,與晶圓步進光刻機配合使用,專為Ultratech Stepper等高強度光刻設備而設計(讀數(shù)高達7500mW/cm2,1000000mJ/cm2'',最長9999秒)??蛇x擇探頭光譜響應:365nm、400nm、420nm或436nm.


OAI_Model_659-Meter

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        OAI擁有完整的認證校準實驗室,以確保儀器的性能,質(zhì)量,和可靠性。Model 659 可追溯至NIST標準。

        


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