Standard Foil鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片

   測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片， 用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法，是測量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制起到了很重要的作用。

   CAL鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于費希爾Fischer、宏德Roentgenanalytik、牛津Oxford、CMI、熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、精工Seiko、島津、電測、博曼BOWMAN、禾苗、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠牌X-ray（X射線測厚儀）、β-ray（β射線測厚儀）、磁感式及渦電流等多種原理的設(shè)備。

美國CALMETRIC公司的所有標(biāo)準(zhǔn)片，都會對標(biāo)準(zhǔn)片進行重新鑒定，其所有證書都是符合NIST（National Institute of Standards and Technology美國 與技術(shù)研究院）標(biāo)準(zhǔn)或ANSI（American National Standards Institute美國 學(xué)會）標(biāo)準(zhǔn)。每一片標(biāo)準(zhǔn)片都由具有資質(zhì)的獨立第三方出具校準(zhǔn)證書。

X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學(xué)鍍層片。例如：單鍍層：Ag/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx， 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx， 化學(xué)鍍層：Ni-P/xx。

我們除了可以提供X射線測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片之外，還可以提供β射線測厚儀和庫倫測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片及庫侖測厚儀的標(biāo)準(zhǔn)測試藥水。并有X射線測厚儀、β射線測厚儀、磁感應(yīng)測厚儀、渦電流測厚儀、庫侖測厚儀等出售。

薄片類型：（以下為常規(guī)厚度）