750118 750119 量產(chǎn)型波前測量儀
- 公司名稱 聯(lián)合光科技(北京)有限公司
- 品牌 聯(lián)合光科
- 型號 750118 750119
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/4/2 10:01:23
- 訪問次數(shù) 75
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應用領域 | 綜合 |
全歐光學WaveMaster波前測量儀用于球面透鏡,非球面透鏡和光學系統(tǒng)的波前測量,集成了準直系統(tǒng),擴束或縮束系統(tǒng),高精度樣品臺,多種光源和WaveSensor波前傳感器。此傳感器采用夏克-哈特曼傳感器原理,用于平面、球面、非球面面型的檢測,光學系統(tǒng)像差檢測,輸出激光光束質(zhì)量檢測,光束動態(tài)變化檢測,自適應系統(tǒng)波前的探測,并有針對大口徑光學和人工晶體波前檢測的解決方案。WaveMaster波前測量儀主要用來測量大型雙遠心鏡頭的全場波前,還可給出被測樣品的面型(PV和RMS),澤尼克系數(shù)(Zernike),點擴散函數(shù)(PSF),調(diào)制傳遞函數(shù),斯特列爾比,楔角。同時,該產(chǎn)品也可用于人工晶體在空氣中或原位中的檢測,晶體低階和高階的相差,晶體的調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF),晶體的點擴散函數(shù)(PSF),晶體屈光度和像差。軟件具有多種模塊功能,簡單易用,用戶可根據(jù)需要進行選擇。
WaveMaster® PRO系列產(chǎn)品是為了適應波前質(zhì)量的大批量檢測的需求而研發(fā)的兩款儀器,可自行設置合格標準,并根據(jù)該標準自動判定合格和不合格。WaveMaster® PRO 2和WaveMaster® PRO 2 reflex配備托盤系統(tǒng),實現(xiàn)對單個小鏡片的大批量檢測。WaveMaster® PRO Wafer則可以對晶圓級鏡頭的波前進行快速檢測。
應用范圍:
生產(chǎn)線上的大批量鏡頭波前和表面面形的檢測
晶圓級鏡頭的波前檢測