CL Go+ DL 美國(guó)貝克休斯（原GE）超聲波測(cè)厚儀CL5升級(jí)
| 參考價(jià) | ￥ 58500 |
| 訂貨量 | ≥1臺(tái) |
- 公司名稱 深圳市泰立儀器儀表有限公司
- 品牌 貝克休斯
- 型號(hào) CL Go+ DL
- 產(chǎn)地 德國(guó)
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/1/1 21:48:21
- 訪問(wèn)次數(shù) 753
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超聲波測(cè)厚儀，超聲波探傷儀，渦流探傷儀，超聲波相控陣探傷儀，電導(dǎo)率儀，磁導(dǎo)率儀，汽車車身點(diǎn)焊檢測(cè)儀，COMET工業(yè)射線機(jī)，工業(yè)內(nèi)窺鏡，工業(yè)CR/DR數(shù)字射線系統(tǒng)，熱分析儀
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 5萬(wàn)-10萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,航天,汽車,電氣,綜合 |
美國(guó)貝克休斯（原GE）超聲波測(cè)厚儀CL5升級(jí)CL Go+
該設(shè)備采用先進(jìn)的數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)和自動(dòng)增益控制，以在各種條件下提供穩(wěn)定的讀數(shù)。高分辨率的A掃描和閘門控制功能能夠優(yōu)化測(cè)量結(jié)果，確保準(zhǔn)確性。主要特點(diǎn)包括：
• 采用有限脈沖響應(yīng)上采樣和插值零交叉測(cè)量技術(shù)，提高測(cè)量穩(wěn)定性和可靠性。
• 自動(dòng)增益控制，提高重復(fù)性。
• 多種校準(zhǔn)和零點(diǎn)校準(zhǔn)模式，確保一致的準(zhǔn)確性。
• 多種測(cè)量模式，包括厚度、差值、質(zhì)量和聲速。A掃描、B掃描、最小/最大值、
CL Go+聲速選項(xiàng)可用于確定已知厚度材料的聲速。用戶可以輸入材料厚度，將探頭放置在零件上，CL Go+將顯示材料的聲速。每個(gè)值都可以存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)記錄器中，并可以下載到個(gè)人電腦上。
美國(guó)貝克休斯（原GE）超聲波測(cè)厚儀CL5升級(jí)CL Go+
型號(hào)和軟件選項(xiàng)：
179M5147 CL Go+ 標(biāo)準(zhǔn)超聲波精密厚度測(cè)量?jī)x，具備實(shí)時(shí)A-Scan功能
179M5148 CL Go+ DL 高級(jí)超聲波精密厚度測(cè)量?jī)x，具備實(shí)時(shí)A-Scan和數(shù)據(jù)記錄器功能
179M5149 軟件升級(jí)：CL Go+ CL Go+軟件升級(jí)到USM Go+/DMS Go+
179M5150 軟件升級(jí)：CL Go+ DL CL Go+ DL軟件升級(jí)到USM Go+/DMS Go+
179M5151 軟件附加功能：數(shù)據(jù)記錄器（DL） 將數(shù)據(jù)記錄器（DL）添加到CL Go+
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