PAM-PR300 日本oji-keisoku光軸測量裝置配向角位相差

日本oji-keisoku光軸測量裝置配向角位相差 PAM-PR300 特點介紹

對光學(xué)薄膜偏振軸方位、取向角及相位差值進行測定

無需個人差異，可簡便且短時間內(nèi)測量

■特點

測定方式

旋轉(zhuǎn)偏光鏡方式

平行尼科耳旋轉(zhuǎn)方式

交叉尼科耳旋轉(zhuǎn)方式

測定波長

590nm

選項：450nm、550nm、630nm

樣品尺寸

□ 30～250mm

厚度20mm以下

測定面積

33mm2（5.8mm見方：感光體面）

測定項目

偏光 軸向方位、方位角、相位差

日本oji-keisoku光軸測量裝置配向角位相差 PAM-PR300 規(guī)格參數(shù)

測定項目

偏光軸方位、配向角、位相差

測定対象

光學(xué)薄膜、偏振板

測定原理

旋轉(zhuǎn)檢光子法、平行二卷旋轉(zhuǎn)法、正交二卷旋轉(zhuǎn)方法

測定時間

約4秒（偏振軸測量）

測定波長

590nm（可選=450nm、630nm等）

樣品尺寸

30mm~250mm，t=20mm以下

系統(tǒng)配置

測定裝置主體、光源裝置、筆記本電腦（Windows10）

主體尺寸

W380XH390 XD610 mm

本體重量

27kg

偏振軸方位測定相位差測定方式旋轉(zhuǎn)檢光子法平行尼可旋轉(zhuǎn)法測定項目吸收軸方位或透過軸方位相位差值、取向角構(gòu)成角度分辨率0.001°0.0 01°角度精度（3σ）0.006°0.017°相位差分辨率N/A 0.01nm相位差精度（3σ）N/A 0.03nm光（LED）固定試樣臺檢光子A