BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm
- 公司名稱 筱曉(上海)光子技術有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2024/12/9 11:54:12
- 訪問次數(shù) 419
聯(lián)系方式:王經(jīng)理18602170419 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
各種激光器光源,光纖光柵,光譜儀中紅外相機,光纖放大器,光學晶體窗片透鏡反射鏡,準直器光纖跳線,偏振器件,濾波器濾光器標準具,延遲線光衰減器,光束整形器太赫茲晶體等
BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm
?" CMOS 光束分析照相機,超高速USB 3.0,支持190-1605nm,通用型和高像素型可選,采用標準的無邊緣式無窗探測器結構,采用電子快門,最短曝光時間可達40 µs。BladeCam2-HR系列配備功能齊全且可定制的軟件,軟件可免費更新,許可證無需付費,并提供無限制的軟件安裝。
355 nm 至 1150 nm,標準 CMOS 檢測器
1.3M 像素,1280 x 1024 像元,6.6 x 5.3 mm 有效區(qū)域
像元尺寸 5.2 µm x 5.2 µm
HyperCal™ – 動態(tài)噪聲和基線校正軟件
USB 3.0供電;靈活的螺釘可鎖定3m長的導線
10 位ADC
標準的無邊緣式無窗探測器結構
電子自動快門,40 µs 至 500 ms
信噪比1,000:1 SNR (30/60 dB 光學/電子)
可現(xiàn)場更換的圖像傳感器
M2 測量選項——光束傳輸分析、發(fā)散、聚焦
連續(xù)激光的光束分析
激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試
光學組裝和儀器校準
光束漂移和記錄
使用 M2DU 平臺測量 M2
BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm
該廠商的其他產(chǎn)品
- BeamOn UV-NIR 光束質(zhì)量分析儀 (190-1310nm)
- Beam On WSR VIS-NIR 光斑分析儀 350-1600nm (最大幀速25Hz)
- MP-S-WCD-IR-BB-7.5 WinCamD-IR-BB 中遠紅外光束質(zhì)量分析儀 2-16um 7.5Hz
- 超寬中紅外光束質(zhì)量分析儀(不帶M2測試,光敏面:15.3×12.2mm)
- 超寬中紅外光束質(zhì)量分析儀(帶M2測試,光敏面:10.8×8.7mm)
- BladeCam2-HR CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm
- BladeCam2-XHR CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm
- BladeCam2-XHR-UV CMOS基礎型光斑分析儀相機 190-1150 nm