KIF-FSA 干涉條紋解析軟件

省空間
采用我社開發(fā)的壓電控制器和筆記本電腦，大大節(jié)省了空間。

測定速度的提升
改善了圖像數(shù)據(jù)的讀取以及解析算法，加快了測定的速度。

可自動校準
配上3軸壓電受臺（選件），可實現(xiàn)干涉儀條紋設為0條紋的校準作業(yè)的自動化，可提高作業(yè)效率（球面測定時）。

解析軟件的高機能化
更新為以自動校準機能為中心的解析軟件，可對應更精細的需求。

數(shù)碼變焦機能
用數(shù)碼變焦可在1倍到3倍以每0.1的倍率設定，微小機件的確認也變得簡單了。

2D、3D彩色圖像顯示
通過2D彩圖的顯示可確認波面相位以及橫切面的形狀。3D圖像更能直觀地顯示波面的相位。

合格與否的判定機能
設定規(guī)格值，在生產(chǎn)線上可簡單地進行合格與否的判定。而且可設定與客戶定義像差相對應的規(guī)格值。

可定制畫面
具有保存、讀取畫面排版狀態(tài)的機能，可設定適合使用場所以及產(chǎn)品的排版。

主要用途：
· 評價鏡片、平面光學部品研磨面的面精度
· 評價鏡片、平面光學部品透過波面的定量
· 評價反射鏡、硬盤、晶片、磁頭等金屬面的面精度評價 

規(guī)格 

· 因測定時的設置環(huán)境不同，會發(fā)生機械性能不能充分發(fā)揮的時候，敬請原諒！
· 本裝置不保證Traceability體系中的精度。 

主畫面
解析結果以2維圖表以及3維鳥瞰圖表示。在2維圖表中可顯示橫切面的形狀。而且各像差以及Zernike系數(shù)將以數(shù)值形式顯示。如有設定規(guī)格值時，將會顯示柱型統(tǒng)計圖以及合格與否（○/×）。可在菜單中進行各種設定、數(shù)據(jù)的保存以及讀取。
<解析結果顯示技能>
· P-V、RMS、Pwr
· 賽德爾像差Tilt、Focus、像差AS、慧差Coma、球差Sa3
· 3維鳥瞰圖、2維彩圖
· 橫切面?zhèn)让嫦瘢╔、Y方向、PV、RMS）
· 合格與否判定結果
<文件輸入輸出機能>
· 工作參數(shù)的保存與讀取
· 條紋數(shù)據(jù)的保存與讀取
· 測定區(qū)域的保存和讀取
· 畫面版面的保存與讀取
· 主窗口打印

測定結果保存
測定結果可作為條紋數(shù)據(jù)保存于文檔中。且左右畫面可作為文本形式復制至剪貼板，可粘貼到表計算軟件。

測量區(qū)域設定畫面
可同時設定四角形、圓形、多角形的多個測量區(qū)域。在不進行特殊形狀設定時，亦可令程序按百分比自動圈劃區(qū)域。
<測量區(qū)域機能>
· 特殊形狀區(qū)域設定（四角形、圓形、多角形、自動圈劃區(qū)域）
· 自動圈劃設定

工作參數(shù)設定畫面
可設定產(chǎn)品名等的屬性，波長選擇、Fitting次數(shù)選擇、像差清除設定、表示單位選擇、對Zernike系數(shù)的offset的設定、規(guī)格值設定、用戶定義像差設定等的設定。
<工作參數(shù)設定機能>
· 產(chǎn)品名、單位名、注釋
· Fitting次數(shù)（3/4/9/16/25/36）
· 像差清除（像差/Zernike系數(shù)）
· 顯示單位（λ、μm、nm、條紋）
· 對Zernike系數(shù)的offset設定
· 規(guī)格值（各像差以及用戶定義式）