ACR核磁共振成像模體

ACR核磁共振成像模體

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1.產(chǎn)品介紹與結(jié)構(gòu)

A. 1.  ACR核磁共振成像模體

       ACR核磁共振成像模體是放射學(xué)會ACR認(rèn)證計劃批準(zhǔn)的模體， 尺寸為直徑8英寸 (203.2mm)， 高6.82英寸(173.4mm)的圓柱體。 內(nèi)部結(jié)構(gòu)的設(shè)計可用于提高所測試各部位的掃描性能 ，在模體外有“ NOSE”和”CHIN”的標(biāo)識來表示掃描的方向。

單位為毫米

圖A. 1  ACR核磁共振成像模體結(jié)構(gòu)圖

2.模體主要可進行圖像掃描和具有圖像分析功能：

B. 1.  幾何精度

       幾何精度測試評估圖像代表成像對象的真實尺寸的準(zhǔn)確性 。 它包括進行模體長度和直徑的測量 ，在模體中容易識別的位置之間 ，并將結(jié)果與已知的模體尺寸進行比較。故障意味著測量的尺寸與真實尺寸的差異遠(yuǎn) 遠(yuǎn)超過通常的正常工作的掃描儀。

       使用 ACR矢狀面定位器圖像和ACR軸向T1系列的切片1和切片5來評估幾何精度 。在切片5中構(gòu)建插入物的材 料因制造模體的日期而不同 。對于較老的大型ACR模體， 切片5將由一個網(wǎng)格組成 。 中型模體和較新的大型模體將有一個丙烯酸插入與等間距的孔。 兩個插入件的功能是相同的， 以指導(dǎo)測量。

B.2.  高對比度的空間分辨率

       高對比度空間分辨率測試是在對比度噪聲比 (CNR) 足夠高時 ，評估掃描儀分辨小物體的能力。

      該測試的失敗意味著 ，對于給定的視場 (FOV) 和采集矩陣 ，掃描儀不能像正常工作的掃描儀那樣解決小細(xì)節(jié) 。然而， 由于臨床方案通常會進行調(diào)整以優(yōu)化高對比度分辨率 ，如果 ACR系列的站點分辨率失敗 ，則將該測試應(yīng)用于站點系列 。 提交的圖像必須通過其中一個ACR系列或兩個網(wǎng)站系列。

B. 3.  切片厚度精度

       切片厚度精度測試評估了達(dá)到厚度的切片的精度。將規(guī)定的切片厚度與測量的切片厚度進行比較。

       該測試的失敗意味著掃描儀產(chǎn)生的厚度與規(guī)定的厚度基本不同的切片。這個問題通常不會孤立地發(fā)生， 因為可能導(dǎo)致它的掃描儀缺陷也可能導(dǎo)致其他圖像問題 。 因此 ，失敗的影響不僅是切片太厚或太薄 ，還可能導(dǎo)致圖像對比度差和低信噪比。

B.4.  切片位置精度

       切片位置精度測試評估了利用定位器圖像作為位置參考 ，在特定位置切片的精度。

       該測試的失敗意味著所獲得的切片的實際位置與規(guī)定位置的差異遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過了一個正常運行的掃描儀的正常水平。

B. 5.  圖像強度均勻

       圖像強度均勻性測試測量的是靠近成像體積中間的一個大區(qū)域的圖像強度的均勻性， 該區(qū)域通常靠近頭部線圈的中心。

       頭部線圈往往具有相當(dāng)均勻的靠近線圈中心的空間靈敏度。然而 ，信號分布隨線圈的設(shè)計而變化。相位陣列線圈自然產(chǎn)生更亮的信號 ，立即鄰近較小的線圈元件的外圍， 因此需要應(yīng)用強度或均勻性校正來通過這個測試。

       由于ACR MRAP模體充滿了導(dǎo)電溶液 ，在3特斯拉及更高的場強下 ，介電效應(yīng)顯著 。這種偽影的發(fā)生是因為 ， 隨著b0的增加 ，射頻波長會減小 ，直到它們接近模體的大小。從不同方向聚集在模體上的站立電子波可以在模體的不同區(qū)域產(chǎn)生破壞性干涉和建設(shè)性干涉的模式。 這通常表現(xiàn)為高電導(dǎo)率模體的中心變亮。 由于介電效應(yīng) ，建議采用與臨床圖像相同的強度不    均勻性校正方法來獲取模體圖像。

       均勻性測試的失敗意味著掃描儀/線圈組合在圖像強度上的變化明顯大于一個正常運行的系統(tǒng)。缺乏圖像強度均勻性可能表明以下情況： ( 1)未使用強度不均勻性校正； (2)掃描儀中存在缺陷； (3)有缺陷的磁頭線圈； 和/或(4)射頻子系統(tǒng)中存在的問題。

B.6.  信號重影

       百分比信號重影測試評估了ACR T1圖像中的重影程度 。模體是一種人工制品， 它將圖像物體的微弱副本 (模體) 疊加在圖像上 ，并從真實位置移動。如果有許多低級的鬼魂， 它們可能無法識別為物體的副本 ，而只是從真實圖像的相位編碼方向發(fā)出的信號的涂抹。鬼影是 脈沖周期重復(fù)之間信號不穩(wěn)定的結(jié)果。 在這個測試中 ，鬼影信號電平被測量并報告為真實(主) 圖像中信號電平的百分比。

       模體在圖像的背景區(qū)域最為明顯 ，在那里應(yīng)該沒有信號 ，但重影也覆蓋了圖像的主要部 分 ，改變了真實的圖像強度。這個測試的失敗意味著有重影偽影明顯高于在正常運行的掃描儀中觀察到的水平。

B.7.  低對比度物體的可檢測性

       低對比度的物體可檢測性 (LCD) 測試評估了低對比度的物體在圖像中可識別的程度。 為此目的 ，模體有四個部分 ，其大小和對比度的低對比度對象都不同。

       檢測低對比度物體的能力主要由信噪比和圖像中獲得的對比度噪比 (CNR) 決定 ，并可能會因重影等偽影的存在而降低。

       CNR性能受場強的影響很大 。 臨床方案通常會根據(jù)這一點進行調(diào)整 。 因此， 如果 ACR T1 和 T2 系列的低對比度物體檢測失敗 ，則將該測試應(yīng)用于現(xiàn)場系列。大多數(shù)掃描 儀可以通過ACR系列的測試 ，但這足以讓掃描儀通過兩個站點系列。

       這個測試的失敗意味著掃描儀產(chǎn)生的圖像顯示的低對比度物體明顯少于大多數(shù)正常 功能的臨床掃描儀。通常 ，一個故障表示低信噪比。但有時 ，文物 ，如重影 ，也會起到作用。

3.模體擺放位置

       擺位時需確保模體在各個方向上保持水平(圖 A. 2) ，圖像定位方法見圖 A.3。ACR推薦的必要掃描序列(表 A. 1)包括一個 T1W-SE 矢狀位序列（正中定位像， FOV≥240x240 mm 2 ,   1層 ，層厚： 20 mm） ，一個 T1W-SE 橫軸位序列（ FOV≥240x240 mm 2 ,   11層 ，層厚： 5mm ，層間距： 5 mm ，像素<0.9x0.9 mm2)   ,  和一個 T2W-SE 橫軸位序列（ FOV≥240x240 mm 2 ,  11層 ，層厚： 5 mm ，層間距：5 mm ，像素<0 . 9x0 . 9 mm2)  。在此基礎(chǔ)上， 測試者可根據(jù)需求自行增加幾何參數(shù)保持一致的其他橫軸位測試序列。

圖A.2  模體擺位

       模體上帶有“CHIN”和“NOSE”的標(biāo)識 ，便于區(qū)分方向。可用氣泡水平儀確保模體在各個方向上保持水平。定位時將內(nèi)置激光線對準(zhǔn)模體上表面黑色十字。

圖A.3  在模體矢狀位圖像上定義橫軸位掃描范圍

       首尾兩層剛好放置于45 °楔角交叉的中心。在橫軸位圖像上計算得出的層位準(zhǔn)確度可定量評估實際掃描的編碼層位與在定位像上定義的掃描層位的一致性。