日本大塚otsuka 顯微分光膜厚儀 OPTM
| 參考價(jià) | ￥ 666 |
| 訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱(chēng) 成都一子沫科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間 2025/4/9 11:48:51
- 訪問(wèn)次數(shù) 774
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點(diǎn)膠機(jī)，光源，水處理儀表，焊接產(chǎn)品，防靜電設(shè)備，電子天平，氣動(dòng)元件，電纜施工工具，管道施工工具，各類(lèi)量具，
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 5萬(wàn)-10萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,航空航天,汽車(chē)及零部件,電氣 |
日本大塚otsuka 顯微分光膜厚儀 OPTM
顯微分光膜厚儀 OPTM series
● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對(duì)焦、測(cè)量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測(cè)試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、絕對(duì)反射率的新型高精度、高性價(jià)比的分光膜厚儀。適用于各種可透光膜層的測(cè)試，并有可針對(duì)透明基板去除背面反射，從而達(dá)到“真實(shí)反射率、膜厚”測(cè)試的目的。此外，軟件操作簡(jiǎn)單、使用方便且簡(jiǎn)化了復(fù)雜的建模流程。...
● 非接觸、非破壞式，量測(cè)頭可自由集成在客戶系統(tǒng)內(nèi)
● 初學(xué)者也能輕松解析建模的初學(xué)者解析模式
● 高精度、高再現(xiàn)性量測(cè)紫外到近紅外波段內(nèi)的絕對(duì)反射率，可分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)（n：折射率、k：消光系數(shù)）
● 單點(diǎn)對(duì)焦加量測(cè)在1秒內(nèi)完成
● 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外 ~ 近紅外）
● 獨(dú)立測(cè)試頭對(duì)應(yīng)各種inline定制化需求
● 最小對(duì)應(yīng)spot約3μm
● 可針對(duì)超薄膜解析nk
● 絕對(duì)反射率分析
● 多層膜解析（50層）
● 光學(xué)常數(shù)（n：折射率、k：消光系數(shù)）
膜或者玻璃等透明基板樣品，受基板內(nèi)部反射的影響，無(wú)法正確測(cè)量。OPTM系列使用物鏡，可以物理去除內(nèi)部反射，即使是透明基板也可以實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。此外，對(duì)具有光學(xué)異向性的膜或SiC等樣品，也可不受其影響，單獨(dú)測(cè)量上面的膜。
● 半導(dǎo)體、復(fù)合半導(dǎo)體：硅半導(dǎo)體、碳化硅半導(dǎo)體、砷化鎵半導(dǎo)體、光刻膠、介電常數(shù)材料
● FPD：LCD、TFT、OLED（有機(jī)EL）
● 資料儲(chǔ)存：DVD、磁頭薄膜、磁性材料
● 光學(xué)材料：濾光片、抗反射膜
● 平面顯示器：液晶顯示器、薄膜晶體管、OLED
● 薄膜：AR膜、HC膜、PET膜等
● 其它：建筑用材料、膠水、DLC等
日本大塚otsuka 顯微分光膜厚儀 OPTM
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