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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>白光干涉測厚儀> KLA Filmetrics F30薄膜厚度測量儀

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KLA Filmetrics F30薄膜厚度測量儀

參考價50000-999999/臺
具體成交價以合同協(xié)議為準

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FIRSTNANO成立于2012年,一家由三位材料學博士共同創(chuàng)辦的德國公司?;?/span> Science is international”的想法,“全球協(xié)同實驗室”成為三位博士追逐的夢想。

公司愿景是從科學家到科學家,科學開創(chuàng)美好未來。

FIRSTNANO深耕于半導體技術(shù)、材料科學、生命科學等科研領(lǐng)域,始終秉承“前沿、專業(yè)、科學”的宗旨,將前沿技術(shù)引進到協(xié)同實驗室。我們的產(chǎn)品覆蓋了微納加工制程;材料科學的檢測、分析;生命科學成像,腦科學與行為認知等相關(guān)領(lǐng)域。作為全球科技前沿的儀器供應(yīng)商,FIRSTNANO具有全球技術(shù)視野、優(yōu)質(zhì)供應(yīng)體系、以及嚴格的質(zhì)量管控系統(tǒng),能為客戶提供前沿的技術(shù)解決方案。

公司服務(wù)的客戶領(lǐng)域廣泛,其中包括消費電子、航空、航天、醫(yī)藥技術(shù)、半導體行業(yè)、光電子行業(yè)、高校和研究機構(gòu)。

在成長的過程中,我們腳踏實地、奮勇向前。自2015年香港(中華區(qū))公司成立以來,我們一相繼在香港、深圳、上海和武漢設(shè)立了分支機構(gòu)。

我們真誠邀請業(yè)內(nèi)英才加入FIRSTNANO TEAM,一起為夢想揚帆起航!

 

 

 

 

半導體儀器和電子產(chǎn)品耗材耗材

產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 50萬-100萬
應(yīng)用領(lǐng)域 電子,航天,汽車,電氣,綜合

監(jiān)控薄膜沉積,有力的工具

KLA Filmetrics F30薄膜厚度測量儀光譜反射率系統(tǒng)能實時測量沉積率、沉積層厚度、光學常數(shù) (n 和 k 值) 和半導體以及電介質(zhì)層的均勻性。

樣品層

KLA Filmetrics F30薄膜厚度測量儀分子束外延和金屬有機化學氣相沉積: 可以測量平滑和半透明的,或輕度吸收的薄膜。 這實際上包括從氮化鎵鋁到鎵銦磷砷的任何半導體材料。

各項優(yōu)點:

  • 極大地提高生產(chǎn)力

  • 低成本 —幾個月就能收回成本

  • A精確 — 測量精度高于 ±1%

  • 快速 — 幾秒鐘完成測量

  • 非侵入式 — 在沉積室以外進行測試

  • 易于使用 — 直觀的 Windows™ 軟件

  • 幾分鐘就能準備好的系統(tǒng)

型號規(guī)格

型號厚度范圍波長范圍

F30

15nm-70μm
380-1050nm
F30-EXR15nm-250μm
380-1700nm
F30-NIR100nm-250μm950-1700nm
F30-UV
3nm-40μm190-1100nm
F30-UVX3nm-250μm190-1700nm
F30-XT
0.2μm-450μm1440-1690nm




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