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德國蔡司 GOM Probe 光學(xué)追蹤探針
- 公司名稱 青島森納瑞精密儀器有限公司
- 品牌 ZEISS/蔡司
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/4/3 10:12:28
- 訪問次數(shù) 33
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專業(yè)經(jīng)營三坐標(biāo)、數(shù)字投影儀、輪廓測量儀、影像儀、測長儀、三維測量系統(tǒng)、粗糙度測量儀、工業(yè)CT等各類檢測儀器、蔡司工業(yè)顯微鏡、日本三豐儀器設(shè)備的商貿(mào)企業(yè)。
德國蔡司 GOM Probe 光學(xué)追蹤探針
德國蔡司 GOM Probe 光學(xué)追蹤探針創(chuàng)新技術(shù)
在許多復(fù)雜的測量應(yīng)用中,需要結(jié)合應(yīng)用以型面為基礎(chǔ)和以點為基礎(chǔ)的三維測量。GOM接觸式探針可作為附件加裝在ATOS三維掃描儀上使用: · ? 全局測量和探觸式探針測量 · ? 測量不易達及的區(qū)域 · ? 直接與CAD 數(shù)據(jù)進行比較 · ? 測量各種規(guī)則幾何形狀(基元) · ? 快速測量各個單點 · ? 在線對齊 GOM接觸式探針上具有一組經(jīng)過標(biāo)定的參考點標(biāo)。使用ATOS三維掃描儀,可以對這組參考點標(biāo)的坐標(biāo)進行光學(xué)追蹤。ATOS測量系統(tǒng)可提供一個多邊形網(wǎng)格,這個多邊形網(wǎng)格精確描述了任意形狀表面,并顯示接觸式探針的在線三維坐標(biāo)。 |
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GOM Probe 特性
| 掃描和探觸式測量的結(jié)合 ATOS測量系統(tǒng),應(yīng)用動態(tài)參照技術(shù),因此允許自由移動或定位被測物體及測量頭。測量頭和被測物體不受相對固定關(guān)係的牽制,這便于按測量系列進行靈活的全位測量,省去重複夾持測量頭和工件的繁瑣操作。 輕便上手的GOM探針均重約100克,便于長時間測量,還適用于較大的測量項目。探針內(nèi)部沒有電子元件或線纜,保證了使用的穩(wěn)定性及自由度。 |
配套的硬件和軟件 ATOS和探針測量是用同一測量系統(tǒng)進行測量,用同一軟件進行評估。不需要額外的硬件或追蹤器,便可快速完成測量。另外,使用配套的軟件,便于在不同測量和檢測界面間進行切換。 |
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| 小型到大型物體的測量 針對大小不同的工件,GOM公司備有五種標(biāo)準接觸式探針以供選用。比如要測量小型注塑零件,可以使用PM1.5型探針;要測量大型鑄件的冷卻通道,則使用PM18型探針。 有效的接觸式探針設(shè)計,可以滿足不同的應(yīng)用需求。PM3 – PM18型接觸式探針採用標(biāo)準的M5螺紋,從而可以輕鬆互換測量頭和加裝延長桿。另外,針對特殊的需要,還可以量身訂製專門的探針。 |
在線測量 使用GOM公司提供的適配器,給在線測量提供了進一步的可能性: ? 對齊部件 ? 調(diào)整固定裝置 ? 確定修剪和回彈 ? 快速在線測量規(guī)則幾何形狀及其各種邊緣 |
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