天恒科儀 芯片測試治具

芯片測試治具的核心優(yōu)勢體現在其系統(tǒng)性技術優(yōu)化與工程化設計。在結構設計層面，采用模塊化布局和高精度加工技術，通過緊湊型架構實現測試工位的空間集成，較傳統(tǒng)測試設備減少40%-60%的占地面積。這種結構特性不僅支持多通道并行測試，還能實現單次裝夾完成多項參數檢測，使測試周期縮短50%以上，顯著提升單位時間產出效率。

該治具集成高靈敏度探針矩陣與智能校準系統(tǒng)，測試精度可達±0.005mm，配合溫度補償算法，可有效消除環(huán)境溫漂對測試結果的影響。在復雜IC芯片測試中，其多維度信號采集系統(tǒng)能同步檢測電源完整性、信號時序、邏輯功能等關鍵參數，故障檢出率提升至99.97%以上。通過自動化測試程序的深度優(yōu)化，測試環(huán)境搭建時間縮短80%，且支持一鍵式參數配置，大幅降低人為操作誤差。

制造環(huán)節(jié)嚴格遵循MIL-STD-883標準，主體結構采用航空級鋁合金經CNC五軸加工成型，關鍵接觸部件使用鈹銅合金鍍金處理，確保10萬次以上測試周期內的接觸穩(wěn)定性。通過三次元坐標測量儀與光學影像檢測系統(tǒng)的雙重校驗，零部件尺寸公差控制在±0.002mm以內，表面粗糙度Ra≤0.4μm。安全防護方面配備防靜電釋放（ESD）保護電路和過載自動切斷裝置，工作電壓穩(wěn)定度達±0.1%，有效保障價值高昂的待測芯片及測試設備安全。

應用領域已從傳統(tǒng)消費電子擴展至車規(guī)級芯片、工業(yè)控制芯片及航天電子元器件測試，特別是在5G通信芯片和人工智能加速芯片的量產測試中，其多站點協(xié)同測試架構可滿足高達256通道的并發(fā)測試需求。通過標準化測試數據接口，可與MES系統(tǒng)實現無縫對接，構建完整的質量追溯體系，為芯片可靠性驗證提供全維度數據支撐。