XR-HDP 標(biāo)準(zhǔn)厚度片

1、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

  該標(biāo)準(zhǔn)厚度片符合JJG818-2018《磁性、電渦流式覆層厚度測量儀檢定規(guī)程》

2、技術(shù)要求

2.1  產(chǎn)品精度：標(biāo)準(zhǔn)厚度片符合JJG818-2018《磁性、電渦流式覆層厚度測量儀檢定規(guī)程》

2.2  產(chǎn)品誤差：±0.6%；

2.3  產(chǎn)品規(guī)格：10µm，50µm，100µm，500µm，1000µm，5000µm，10000µm各1塊。

2.4、 證書，1套

3 測量方法

  用數(shù)顯電感式測微儀(選擇1N測力的測頭，不大于50μm的厚度片選用平面測頭)和三等量塊或光柵測微儀等，在平面工作臺上用比較法測量或用直接法測量。直接法測量:先將數(shù)顯電感式測微儀或光柵測微儀等對零，再將被測的厚度片放在平面工作臺上，在距邊緣5mm的測量區(qū)域內(nèi)均勻分布5個點，取中心點5次示值的平均值作為厚度片的實際值，其厚度值H按公式計算;取各點示值與實際值的最大差值作為厚度片的均勻性，其示值按公式計算。

  比較法測量:用數(shù)顯式電感測微儀(選擇1N測力的測頭)和三等量塊，在平面工作臺上用比較法測量。選擇與厚度片標(biāo)稱值相差20um以內(nèi)的三等量塊，讓數(shù)顯式電感測微儀對零，記下此時的數(shù)值，再將被測的厚度片放在平面工作臺上測量，所得示值加上所用量塊的實際值即為所測點的厚度值。其H實際值按公式計算;其厚度片的均勻性按公式計算。

  對于沒有與厚度片厚度標(biāo)稱值相差20m以內(nèi)量塊的情況，可以使用量塊組合測量。例如測量標(biāo)稱值為405μm的厚度片，先用 1.4 mm的量塊，讓數(shù)顯式電感測微儀對零，記下此時的數(shù)值，將1mm的量塊墊在工作臺上，將厚度片放置在1mm量塊上用數(shù)顯式電感測微儀測量。其日實際值按按公式計算;其厚度片的均勻性按公式計算。