FT型熱像儀核心及IR FPA測試系統(tǒng)
參考價(jià) | ¥ 500000 |
訂貨量 | ≥11件 |
- 公司名稱 上海明策電子科技有限公司
- 品牌 INFRAMET
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/5/29 9:57:38
- 訪問次數(shù) 24
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,電氣,綜合 |
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FT測試系統(tǒng)的FT-S配置(光譜參數(shù)測量)
紅外焦平面陣列是熱成像系統(tǒng)最重要的核心部件。探測器電路(核心)的設(shè)計(jì)是熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵部分。因?yàn)榧t外焦平面陣列的參數(shù)決定了熱像儀系統(tǒng)的性能極限,紅外焦平面技術(shù)或熱像儀技術(shù)方面的專業(yè)人員必須精確地了解紅外焦平面陣列參數(shù)方面的知識(shí)。因此,測量紅外焦平面陣列性能的測量設(shè)備是研發(fā)紅外熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵。
FT是一個(gè)完備的測試系統(tǒng),它產(chǎn)生精確控制時(shí)空分布的紅外,輻射到紅外焦平面的輸入平面來控制被測紅外焦平面;最后對(duì)被測紅外焦平面陣列(或熱像儀核心)進(jìn)行表征所需的輸出信號(hào)進(jìn)行半自動(dòng)分析。
該系統(tǒng)能夠測量熱像儀核心和紅外焦平面陣列的所有重要參數(shù)(噪聲/靈敏度、成像質(zhì)量和光譜參數(shù))??蓽y試不同光譜波段(LWIR或MWIR)、冷卻或非冷卻的探測器。FT系統(tǒng)可以在一系列版本中提供,并針對(duì)不同測試范圍的熱成像核心和紅外焦平面陣列進(jìn)行優(yōu)化,還可以選擇能夠測試完整的熱像儀的超擴(kuò)展版本。
FT測量系統(tǒng)一個(gè)模塊化的系統(tǒng),可以方便快速地配置成三個(gè)半獨(dú)立的測量工作站:FT-N,F(xiàn)T-I,和FT-S。
1.FT-N——噪聲和響應(yīng)參數(shù)的測量;
2.FT-I——成像質(zhì)量參數(shù)的測量
3.FT-S——光譜參數(shù)測量。