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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>白光干涉測厚儀> NS-OEM系列(膜厚測量套件)

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NS-OEM系列(膜厚測量套件)

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 蘇州悉識科技有限公司
  • 品牌 Acuitik
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2025/10/21 8:43:37
  • 訪問次數(shù) 66
產(chǎn)品標簽

NS-OEM膜厚測量套件

聯(lián)系方式:楊經(jīng)理查看聯(lián)系方式

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蘇州悉識科技有限公司由美國伯克利、復旦大學、上海交通大學、上??萍即髮W等學府的博士和碩士聯(lián)合創(chuàng)立,在膜厚量測設備技術領域具有多年行業(yè)經(jīng)驗,實現(xiàn)了產(chǎn)品全國產(chǎn)自研,全自主可控。公司專注于白光干涉膜厚技術和橢圓偏振測量技術,這些技術在精密制造和科研領域扮演著至關重要的角色。悉識科技的產(chǎn)品線涵蓋了桌面式膜厚儀、真空膜厚儀、手持式膜厚儀以及高速線掃膜厚儀等多種設備,這些設備均已成功投入市場,并得到了廣泛應用。公司的產(chǎn)品具有高精度和穩(wěn)定性,滿足了半導體、顯示面板、光伏、硬膜和抗反射涂層等多種應用場景的需求。

膜厚儀,光學測厚儀,光學干涉薄膜測厚儀

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 面議
應用領域 生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池,包裝/造紙/印刷,汽車及零部件

NS-OEM系列(膜厚測量套件)是基于 NS-20 薄膜測厚儀研發(fā)的。其光學探頭設計得較為緊湊,可適用于多種安裝環(huán)境。為確保測量精準,光學探頭需與樣品表面保持垂直,建議使用我們配備的調(diào)角工具來精準調(diào)節(jié)安裝角度。光學探頭經(jīng)由光纖連接到主機,光纖長度靈活可變,能夠滿足不同布局的安裝需求。

  • 波長范圍: 190–1000 nm 或 350–1100 nm.

  • 光學探頭專為集成到自動化設備、在線系統(tǒng)、真空腔室、原位生長腔室以及其他特殊環(huán)境而設計,以滿足多樣化的應用需求。


NS-OEM系列(膜厚測量套件)


NS-OEM系列(膜厚測量套件)參數(shù)規(guī)格


型號NS-OEM
波長范圍UV: 190 nm – 1100 nm
STANDARD: 350-1050 nm
NIR: 900-1700 nm
HR980: 950 – 1100 nm
HR1310: 1280 – 1340 nm
HR1550: 1520 – 1580 nm
厚度測量范圍11 nm – 1 mm
準確度22 nm 或 0.2% (取較大者)
靜態(tài)重復精度30.02 nm
光斑大小200 um ~ 2 mm, 標準大小1.5 mm
測量速度4< 1s(單次測量)
光源UV: 鹵鎢燈 + 氘燈
STANDARD:鹵鎢燈
HR980: SLED
主機-光學探頭連接方式光纖
光纖長度1.3 米 (標準), 可選配不同長度的光纖以適配實際環(huán)境,最大20米
光學探頭尺寸直徑: 19 mm, 長度: 86 mm
電源類型90-264VAC, 47-63Hz, 1.4A/115VAC 1A/230VAC


1. 取決于被測樣品材料以及選用的波段范圍.

2.選用硅晶圓上的二氧化硅標準厚度樣品 (厚度范圍500~1000nm).

3.計算100次測量500nm SiO2標準片的1倍標準偏差,對20個有效測量日的1倍標準偏差取平均

4.取決于配方復雜度,標準案例為硅晶圓上的二氧化硅標準厚度測量配方





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