ZEM15 澤攸臺(tái)式掃描電鏡的多模式兼容性解析?
| 參考價(jià) | ￥350000-￥450000/件 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱(chēng) 北京儀光科技有限公司
- 品牌ZEPTOOLS/澤攸科技
- 型號(hào)ZEM15
- 所在地北京市
- 廠(chǎng)商性質(zhì)代理商
- 更新時(shí)間2025/10/28 13:20:51
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 29
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西班牙Sensofar共聚焦白光干涉儀、澤攸臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析、徠卡等光學(xué)顯微鏡、RMC超薄切片機(jī)、Linkam冷熱臺(tái)
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,地礦,能源,汽車(chē)及零部件,綜合 |
|---|
澤攸臺(tái)式掃描電鏡的多模式兼容性解析
現(xiàn)代科學(xué)研究越來(lái)越依賴(lài)跨學(xué)科合作，但不同領(lǐng)域?qū)﹄婄R的需求差異巨大：材料學(xué)家需要高分辨表面形貌，生物學(xué)家關(guān)注低損傷超微結(jié)構(gòu)，化學(xué)家側(cè)重成分分布分析。傳統(tǒng)電鏡因功能單一，常需多臺(tái)設(shè)備配合，增加了研究成本與協(xié)作難度。澤攸ZEM15通過(guò)“多模式兼容設(shè)計(jì)”，成為跨學(xué)科研究的“通用表征平臺(tái)”。
表面形貌模式（SE二次電子探測(cè)）：分辨率2nm，放大倍數(shù)10-300,000×，適用于材料斷口、納米顆粒形貌觀(guān)察； 成分襯度模式（BSE背散射電子探測(cè)）：對(duì)原子序數(shù)敏感，可區(qū)分合金中的Fe、Cu、Al等元素，適用于金屬析出相分析； 低損傷模式（低電壓+低束流）：5kV加速電壓，0.1nA束流，適用于生物切片、高分子薄膜觀(guān)察。
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