ZEM15 澤攸掃描電鏡實(shí)驗(yàn)室微觀分析的通用型方案?

　　北京儀光科技，專注顯微形貌分析！

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　　愿景：讓科學(xué)研究和技術(shù)創(chuàng)新更便捷、更高效！

　　使命：為材料用戶提供準(zhǔn)確、可靠、全面的毫米級(jí)到納米級(jí)樣品制備及微觀形貌分析解決方案!