ZEM20 pro 澤攸高分辨率掃描電鏡制備技術(shù)探討

澤攸高分辨率掃描電鏡制備技術(shù)探討樣品制備是掃描電鏡觀察的重要環(huán)節(jié)。澤攸ZEM20 Pro臺(tái)式掃描電鏡的樣品制備方法根據(jù)樣品特性有所不同。

導(dǎo)電樣品的制備相對(duì)簡(jiǎn)單。通常只需將樣品固定在樣品臺(tái)上，確保良好的電接觸即可。對(duì)于尺寸較小的樣品，可以使用導(dǎo)電膠固定，避免觀察過程中樣品移動(dòng)。

非導(dǎo)電樣品需要特殊處理。傳統(tǒng)的噴金方法可以增加樣品表面的導(dǎo)電性，避免荷電效應(yīng)。ZEM20 Pro的低真空模式為非導(dǎo)電樣品觀察提供了另一種選擇，部分樣品可以不噴金直接觀察。

生物樣品制備較為復(fù)雜。常規(guī)制樣包括固定、脫水、干燥等步驟。臨界點(diǎn)干燥法可以更好地保持樣品結(jié)構(gòu)，但操作較為復(fù)雜。選擇何種制樣方法需要根據(jù)研究目的決定。

粉末樣品的制備需要注意分散性。將粉末均勻分散在樣品臺(tái)上，避免團(tuán)聚影響觀察效果。可以使用適當(dāng)?shù)姆稚┹o助分散，但要注意分散劑不能影響觀察。

易損傷樣品需要特別小心。例如某些高分子材料在電子束照射下容易損傷，需要降低束流強(qiáng)度，縮短觀察時(shí)間。這些措施有助于減少對(duì)樣品的損傷。

特殊樣品的制備可能需要專門技術(shù)。例如需要觀察樣品截面時(shí)，要制備出平整的斷面。根據(jù)不同樣品特性，可以選擇合適的制樣方法，獲得所需的觀察效果。澤攸高分辨率掃描電鏡制備技術(shù)探討