Leica DM8000M和leica DM12000M 徠卡Leica半導體及工業(yè)用顯微鏡
參考價 | ¥ 500000 |
訂貨量 | ≥1 |
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 北京索宏恒業(yè)科技中心
- 品牌
- 型號 Leica DM8000M和leica DM12000M
- 產(chǎn)地 德國
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2017/12/1 19:48:58
- 訪問次數(shù) 722
產(chǎn)品標簽
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【詳細說明】
一、徠卡微分干涉顯微鏡儀器簡介: 德國徠卡(LEICA) 微分干涉顯微鏡適合2寸到12寸的樣品。 徠卡顯微鏡*的微分干涉效果,對LCD液晶 COG及FOG制程中ACF壓合后的導電粒子破裂程度,偏位等狀況進行細微觀察,及時指導您對制程工藝(壓合工藝參數(shù))進行調(diào)整,確保產(chǎn)品質(zhì)量及生產(chǎn)效率。 對外延片MOCVD等薄膜缺陷錯位檢查有很高的敏感度,對藍寶石鑲嵌、多晶、顆粒氣泡等內(nèi)部缺陷檢查,藍寶石腐蝕樣品的腐蝕坑測試,成像及其清晰。 另外更可使用彩色濾光片 手機屏幕 FPD模組 半導體晶圓片 FPC PCB IC封裝 光盤CD 圖像傳感器CCD CMOS PDA 等多種電子品種的微小缺陷檢測。 二、徠卡微分干涉顯微鏡技術(shù)參數(shù): • 智能型操作, 智能型照明, DM12000M: 可用于12英寸(300MM)樣品檢測。可升級至UV光用于更高分辨率需要。 DM8000M: 可用于8英寸(200MM)樣品檢測??缮壷罸V光用于更高分辨率需要。 DM6000M/DM4000M/DM2500M: 可用于6英寸(150MM)樣品檢測。 |