LW300MDT LW300MDT 正像正置芯片檢查顯微鏡 明暗場(chǎng)

 鐘飛：  

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儀器用途：

   LW300MDT正像正置芯片檢查顯微鏡可進(jìn)行明視場(chǎng)、暗視場(chǎng)、簡(jiǎn)易偏光觀察。是半導(dǎo)體檢驗(yàn)、電路封裝、電路基板、材料等行業(yè)理想的儀器。本儀器配置大視野目鏡和長(zhǎng)工作距離平場(chǎng)消色差物鏡（無蓋玻片），視場(chǎng)大而清晰， 粗微動(dòng)同軸調(diào)焦機(jī)構(gòu)，粗動(dòng)松緊可調(diào)，帶限位鎖緊裝置，微動(dòng)格值:0.8μm，三目鏡筒,可自由切換正常觀察/偏光觀察,明視場(chǎng)/暗視場(chǎng)觀察. 可進(jìn)行*透光攝影。

技術(shù)參數(shù)：

１、鏡筒：鉸鏈?zhǔn)诫p目頭部，30°傾斜，主機(jī)含三目鏡筒（T）

２、目鏡：WF10XΦ18mm，單視度可調(diào)

３、金相物鏡：明場(chǎng)物鏡4X、明暗場(chǎng)物鏡10X、20X、40X

４、轉(zhuǎn)換器：五孔

５、工作臺(tái)：三層機(jī)械移動(dòng)，尺寸280mm×270mm，移動(dòng)范圍204mmX204mm 

６、調(diào)焦：粗微動(dòng)同軸，升降范圍25mm，微動(dòng)格值0.0008mm，帶松緊和限位裝置

７、光源：透反射照明。透射照明：光纖冷光源，亮度可調(diào)；反射照明：鹵素?zé)?/span>6V30W，亮度可調(diào)，帶起偏振片

８、正交偏光裝置