DP-IR-2 雙波段發(fā)射率測(cè)試儀/遠(yuǎn)紅外線測(cè)試儀/發(fā)射率測(cè)試儀/發(fā)射率檢測(cè)儀

雙波段發(fā)射率測(cè)試儀/遠(yuǎn)紅外線測(cè)試儀/發(fā)射率測(cè)試儀/發(fā)射率檢測(cè)儀 型號(hào)：DP-IR-2

雙波段發(fā)射率測(cè)試儀 、遠(yuǎn)紅外線測(cè)試儀采用反射率法的測(cè)試原理，即通過采用主動(dòng)黑體輻射源測(cè)定待測(cè)物表面的法向反射率，而測(cè)出其在特定紅外波段的法向發(fā)射率。該儀器可測(cè)量常溫樣品在3～5um、8～14um、1～22um三個(gè)波段發(fā)射率。對(duì)需要的用戶，通過的控溫加熱裝置，在常溫至300℃溫度范圍加熱樣品，行發(fā)射率變溫測(cè)量。該儀器主要用于軍事裝備的紅外隱身、紅外烘烤、建材、紙張、紡織等行業(yè)對(duì)材料紅外輻射特性的測(cè)量研究。目前已在西北核所，東南大學(xué)等單位使用。
儀器特點(diǎn)：
1．儀器中有小型標(biāo)準(zhǔn)黑體輻射源，采用六位度微機(jī)控溫儀（能顯示到1mk），使儀器不僅具有穩(wěn)定的寬光譜測(cè)量范圍，而且地提了儀器在測(cè)量時(shí)的可靠性和穩(wěn)定性。
2．采用了的光學(xué)調(diào)制，使測(cè)量不受被測(cè)物表面輻射及環(huán)境輻射的影響。
3．在儀器中，考慮到樣品漫反射引起的測(cè)量誤差，除鏡反射（MR）探測(cè)通道外，還增設(shè)了專門的漫反射（DR）補(bǔ)償通道，從而確保了儀器的測(cè)量度。
4．在信號(hào)及電子學(xué)處理上采用鎖相和微電子，較好地實(shí)現(xiàn)了對(duì)微弱信號(hào)的探測(cè)，步提了儀器性能。
5．本儀器操作簡(jiǎn)單、使用方便、測(cè)量快速。
6．可按需更換濾光片，在多個(gè)紅外光譜波段內(nèi)行測(cè)試。
7．在測(cè)量過程中不損傷被測(cè)樣品。
8．本儀器帶RS-232串口及復(fù)位鍵RST。
主要標(biāo) 
1．測(cè)量波段：3～5um、8～14um、1～22um  
（若用戶有要求，可定制不同波段濾光片）
2．發(fā)射率測(cè)量范圍：0.1～0.99
3．靈敏度NE△ε：0.001
4．示值誤差：±0.02 （ε>0.50）
5．重復(fù)性：±0.01
6．樣品溫度：常溫（用戶為常溫～300℃）
7．樣品尺寸：>Ф50
8．測(cè)量時(shí)間：3秒后按測(cè)量鍵E，即顯示ε測(cè)量值。
9．顯示方法：LED數(shù)字顯示，末位0.001
10.電   源：  交流220V   50HZ

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