基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn);或用對基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點(diǎn)。

g 磁場

周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測厚作。

h 附著物質(zhì)

本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，清除附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

i 測頭壓力

測頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

j 測頭的取向

測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。

使用儀器時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定

a 基體金屬性

對于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

b 基體金屬厚度

檢查基體金屬厚度是否過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法行校準(zhǔn)。

c 邊緣效應(yīng)

不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處行測量。

d 曲率

不應(yīng)在試件的彎曲表面上測量。

e 讀數(shù)次數(shù)

通常由于儀器的每次讀數(shù)并不相同，因此在每測量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局差異，也要求在給定的面積內(nèi)行多次測量，表面粗時(shí)更應(yīng)如此。

f 表面清潔度

測量前，應(yīng)清除表面上的何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去何覆蓋層物質(zhì)

涂層測厚儀中F，N以及FN的區(qū)別:

F代表ferrous 鐵磁性基體，F(xiàn)型的涂層測厚儀采用電磁感應(yīng)原理，來測量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如:漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。

N代表Non- ferrous非鐵磁性基體，N型的涂層測厚儀采用電渦原理;來測量用渦傳感器測量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。

FN型的涂層測厚儀既采用電磁感應(yīng)原理，又采用采用電渦原理，是F型和N型的二合型涂層測厚儀。

影響涂層測厚儀測量值度的因素

使用儀器時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定

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