日立分析儀器(上海)有限公司

低檢出限對(duì)當(dāng)今金屬質(zhì)量控制至關(guān)重要的三大原因

時(shí)間:2021-6-17 閱讀:699
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當(dāng)我們談到檢出限,我們是指分析儀能夠檢測出材料樣品中某一元素的下限。了解儀器的檢出限非常重要,因?yàn)槿绻谠摍z出限以下進(jìn)行測量,則將獲得該特定元素的零讀數(shù)。換言之,分析儀會(huì)顯示這種元素不存在,但實(shí)際上它是存在的,只是含量很少。如果您正在進(jìn)行篩選以確保元素不存在,這將為您提供假陽性結(jié)果;或者如果元素是必需品,這將為您提供假陰性結(jié)果,并且您必須拒絕該批次,因?yàn)槟鸁o法檢測到它。

一個(gè)錯(cuò)誤的讀數(shù)會(huì)在報(bào)廢和返工方面耗費(fèi)資金;更壞的情況是最終的部件將在現(xiàn)場失效。為了避免這種情況,必須確保正在分析的元素的規(guī)格高于火花光譜儀的檢出限。我們在日立看到的是,在以下三個(gè)領(lǐng)域的金屬行業(yè)分析要求正變得非常接近,且在某些情況下許多直讀光譜儀的性能可以滿足。

1、來料和原材料的篩選

為提高可持續(xù)性并降低成本,更多的廢金屬正重新進(jìn)入供應(yīng)鏈。雖然從環(huán)境的角度來看這是個(gè)好消息,但這確實(shí)意味著用戶必須檢查來料中的殘留元素和痕量元素。許多元素,如鋅、硼和錫,對(duì)最終部件的性能有很大的影響,它們出現(xiàn)在錯(cuò)誤的合金中會(huì)產(chǎn)生災(zāi)難性的影響。驗(yàn)證來料時(shí)需要能夠測量含量在ppm范圍內(nèi)的各種痕量元素、雜質(zhì)元素和殘留元素。

2. 過程控制

?對(duì)火花光譜分析過程控制要求高的領(lǐng)域是熔煉化學(xué)控制。為了滿足最終產(chǎn)品的精確規(guī)格,必須測量含量在百萬分率(ppm)范圍內(nèi)的一系列元素。當(dāng)談到鋁熔煉控制時(shí),情況將變得更復(fù)雜,因?yàn)楸仨毚_保將磷、銻和鉍等元素的含量控制在10ppm以下,因?yàn)樗鼈兊拇嬖跁?huì)使熔體改性劑無效。

 

3、滿足行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

?在第三個(gè)領(lǐng)域中,某些元素的成分要求接近許多儀器的檢出限,即表示符合ASTM行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。最有潛在問題的標(biāo)準(zhǔn)是用火花原子發(fā)射光譜法分析碳和低合金鋼的ASTM E415試驗(yàn)方法。這詳細(xì)說明了21種不同的元素含量必須被控制在給定檢出限內(nèi)??赡?挑戰(zhàn)性的是針對(duì)氮元素的檢出限,這基本上要求檢出限低于10ppm才能符合相關(guān)規(guī)定。

如何滿足低檢出限要求

基本上,檢出限是由儀器的技術(shù)性能決定的??梢源_保儀器在盡可能低的檢出限情況下運(yùn)行,方法是確保對(duì)設(shè)備保持適當(dāng)?shù)男?zhǔn)并進(jìn)行定期維護(hù),但最終所有光譜儀都有一種能讓信號(hào)在噪聲中真正丟失的檢出限。

日立的OE系列火花光譜儀包含先進(jìn)的檢測器和火花臺(tái)技術(shù),以滿足當(dāng)今金屬質(zhì)量控制的要求,而不需要投資高成本的儀器。該系列中的兩種儀器都能滿足金屬中所有非氣體元素含量低于10ppm的檢出限要求——一些檢出限接近1ppm水平。

供應(yīng)鋁工業(yè)的鋁鑄造廠需要進(jìn)行高水平的熔煉分析。OE720旨在滿足鋁鑄造廠的嚴(yán)格要求,尤其是那些對(duì)磷、鉍和銻以及控制鋁中雜質(zhì)元素有較低檢出限的要求。

 

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