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納米顆粒及Zeta電位分析儀主要用于測量顆粒度的大小及分布

閱讀:3185      發(fā)布時間:2018-4-8
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Litesizer™ 500納米顆粒及Zeta電位分析儀主要是測顆粒度大小、分布,測量范圍從幾十納米到幾微米。它可通過測量動態(tài)光散射(DLS)、電泳光散射(ELS)和靜態(tài)光散射(SLS)來測定顆粒尺寸;zeta電位測量采用新型cmPALS技術(shù),使得zeta電位測量的準確性達到zui高。Litesizer™ 500可應(yīng)用于科研和工業(yè),包括納米材料、生物制藥、高分子樹脂、顏料燃料、細小拋光顆粒等,還適用于大學(xué)、醫(yī)院等研究機構(gòu)、創(chuàng)新研發(fā)中心等。
 
zeta 電位測量——新型技術(shù)
Litesizer™ 500 采用新型(歐洲 2 735 870)PALS 技術(shù) cmPALS,可實現(xiàn)更短的測量時間以及更低的施加電場。結(jié)果:敏感樣品可在劣化較輕的情況下進行測量。
Zeta 電位試管具有*的 Ω 形毛細管。這種形狀意味著電泳光散射 (ELS) 測量可不受測量位置影響,且具有高穩(wěn)定性和可重復(fù)性。
 
顆粒尺寸測量:的分辨率
由于固件采用了非常先進的算法,因此可以測量單一懸浮液中幾種不同的顆粒尺寸。
 
可自動測量連續(xù)的透射比
Litesizer™ 500 可連續(xù)測量每一份樣品的透射比,從而可以迅速確定樣品是否適合進行光散射測量。可通過 Litesizer™ 500 為測量選擇*參數(shù)(測量角度、焦點位置和測量持續(xù)時間)。
 
減輕您實驗室負擔(dān)的工具
通過時間、溫度、pH 值、濃度來監(jiān)測顆粒
通過系列測量來顯示顆粒尺寸及 zeta 電位如何隨時間、溫度、pH 值或濃度變化。測量結(jié)果以不同顏色清楚顯示在單一圖形上,以確定圖形趨勢,同時所有重要值和參數(shù)在圖形下方按邏輯關(guān)系列表。
 
只需按下按鈕即可進行顆粒分析
Litesizer™ 500 可為您優(yōu)化試驗:完成樣品準備后,Litesizer™ 500 可自動調(diào)整衰減,選擇*焦點位置、測量角度以及測量持續(xù)時間。您只需選擇溶劑、點擊啟動并觀察出現(xiàn)的測量結(jié)果即可。
 
一頁式工作流程
輸入?yún)?shù)、測量結(jié)果和分析數(shù)據(jù)——所有內(nèi)容都集中在一個頁面上。

 

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